ミナトエレクトロニクス株式会社

ユニバーサルプログラマ、ギャングプログラマ、ＥＰＲＯＭイレーサー
FPDテスタ、タッチパネル

メモリテスタ
MASK ROM、FLUSH ROM、DRAM等の低価格メモリIC用テスタです。
　 　 　
バーインテスタ
テストスピードが25MHzの高速バーインテスタです。当社メモリテスタと同等のALPGユニットを搭載しておりますので、メモリテスタのファンクション工程を移行することが出来ます。
　
DCテスタ
2000ピンまでのICのDC測定を行うことが出来ます。
　
CCDテスタ
１次元CCD及び２次元CCD ＩＣを測定することが出来る、低価格CCDテスタです。

広帯域フラッタアナライザ
AV機器のワウ・フラッタ測定をはじめ、各種の回転ムラ測定が可能。ワウ・フラッタ/周波数/ドリフト/回転数の測定ができ、測定結果のGO,NO-GO自動判定機能も備えています。操作面においては、測定中心周波数、フラッタ帯域を制限するローパスフィルタなどに自動同調とワンタッチ同調機能のほか、全機能を記憶,呼び出しできるプリセット機能を採用します。回転機器の研究・開発部門はもちろん、光学・磁気エンコーダで制御されている小型モータ等の製造・検査ラインの使用に最適です。
　 　 　
ＣＤジッタアナライザ
あらゆるCD-ROM、MD、装置生産関連ラインに対応できる、1/2/4倍速の切り替え可能なCD-3T信号評価用のジッタメータです。GO、NO-GO判定機能とジッタのアナログ出力を持っています。オプションでGP-IBを介した条件設定とデータ読みこみ機能も用意された、コストオパフォーマンスに優れた高機能器です。また、CD及びDVDドライブから出力されるEFM信号に含まれる3T信号のジッタをリアルタイムに測定し、メータ及びLCDディスプレイに数値表示するMODEL6081もあります。

ウェハーモビリティー
ＧａＡｓ、ＩｎＳｂ、ＧａＰ、ＩｎＰ等の化合物半導体のＭＯＢＩＬＩＴＹが、ウェハ−を破壊することなく、非接触にて簡単かつ迅速に測定することができます。ウェハ−のド−ピングタイプ（ｃｏｎｄｕｃｔｉｎ　ｔｙｐｅ）の判別が可能です。測定操作入力及び、測定結果出力がＧＰＩＢインタ−フェ−スにより、外部の制御機器と接続されます。小型軽量（約１１ｋｇ）であり、ウェハ−測定システムに容易に組み込むことができます。
　
比抵抗測定器
半導体ウェハ−の比抵抗及びシ−ト抵抗を非接触にて破壊することなく簡単かつ迅速に測定することができます。本モデルでは８インチウェハ−までの測定が可能です。小型軽量（約１0ｋｇ）であり、ウェハ−測定システムに容易に組み込むことができます。測定操作入力及び、測定結果出力を外部のコントロ−ラと接続するインタ−フェ−スを有しています。
　
P/Nチェッカー
半導体ウェハ−のド−ピングタイプ（Ｐ，Ｎ）を非接触にて破壊することなく簡単かつ迅速に測定することができます。本モデルでは８インチウェハ−までの測定が可能です。小型軽量（約１0ｋｇ）であり、ウェハ−測定システムに容易に組み込むことができます。測定結果を表示するとともに外部からのコントロ−ラにて自動測定ができます。
　
比抵抗測定器
Ｍｏｄｅｌ６６１０の後継機です。１２インチウェハ−に対応可能です。測定部と制御部に分かれており、ウェハ−測定システムに容易に組み込むことが可能です。本モデルは現在開発中です。
　 　
P/Nチェッカー
Ｍｏｄｅｌ６６２０の後継機です。１２インチウェハ−に対応可能です。測定部と制御部に分かれており、ウェハ−測定システムに容易に組み込むことが可能です。本モデルは現在開発中です。

ＦＡネットワークシステムの構築
・ネットワーク系幹線業務アプリケーション
・産業機器制御ソフトウェアの開発
・各種業務アプリケーションの開発
・生産技術系アプリケーションの開発