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近接磁界に対するイミュニティ試験(IEC 61000-4-39)

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EMC試験  /  医療・バイオ 産業機械機器 試験・分析・測定

2020年9月、医療機器のEMC国際規格「IEC 60601-1-2:2014」の Amendment1:2020(4.1版)が発行されました。
4.1版では、IEC 61000-4-39「近接磁界に対するイミュニティ試験」が新たに追加されています。
欧州でも4.1版に対応するEN規格が発行されており、4.0版から4.1版の移行期間は2024年3月までの予定です。

近接磁界に対するイミュニティ試験

近接磁界に対するイミュニティ試験は、RFIDやIH (誘導調理器) などから放射される磁界を模擬し、磁界に対して敏感な回路や素子を持つ医療機器に対して印加する試験です。

試験対象の機器の例として、コイルやホール素子などを含む医療機器だけでなく、磁界によって配線や相互接続線に誘導された電圧が、意図した機能を変える回路を持つ医療機器が挙げられています。

OKIエンジニアリングでは、IEC 61000-4-39「近接磁界に対するイミュニティ試験」に対応しています。

IEC 61000-4-39 試験条件

周波数主な発生源変調方式試験レベル
30kHz(※) IH(誘導調理器) 無変調 8 A/m
134.2kHz RFID パルス変調(変調周波数2.1kHz) 65 A/m
13.56MHz RFID パルス変調(変調周波数50kHz) 7.5 A/m

※周波数30kHzの試験は、ホームヘルスケア環境での使用を意図する医療機器のみ適用されます

IEC 61000-4-39 試験構成例

近接磁界に対するイミュニティ試験の構成例
近接磁界に対するイミュニティ試験の構成例

IEC61000-4-39で要求されるイミュニティ試験向けのループアンテナ

30kHz/134.2kHz用アンテナ
30kHz/134.2kHz用アンテナ
  13.56MHz用アンテナ
13.56MHz用アンテナ

IEC61000-4-39 試験構成

30kHz/134.2kHz 試験構成
30kHz/134.2kHz 試験構成
  13.56MHz用 試験構成
13.56MHz用 試験構成

EMC試験に関するお問い合わせ

近接磁界に対するイミュニティ試験やEMC試験について、OKIエンジニアリングまでお気軽にお問い合わせください。
お見積りのご依頼や試験可否については、製品や部品の品名情報、詳しい試験や分析の条件についてお知らせいただけるとスムーズです。

参加ポータル
試験・分析.com