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「ESD試験・TLP測定」一覧

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  • ESD／ラッチアップ（Latch-up）実力・解析試験

    ESD試験・TLP測定  / 2026年08月07日 /  自動車 電子・半導体 試験・分析・測定
    ESD／ラッチアップ（Latch-up）実力・解析試験LSIのESD耐量とラッチアップ耐量をデバイス開発段階で実力値まで確認し、故障発生時の解析から確実な改良対策案までをご提供します。ESDやラッチアップ試験は、量産に関…
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  • ラッチアップ（Latch-up）試験

    ESD試験・TLP測定  / 2026年08月06日 /  自動車 電子・半導体 試験・分析・測定
    ラッチアップ（Latch-up）試験 ラッチアップ（Latch-up）試験とは CMOSデバイスは、構造上デバイス内部にバイポーラ型の寄生トランジスタ回路が構成され、それがサイリスタと同じ構成になることから、外来サージ等で…
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  • ESD試験

    ESD試験・TLP測定  / 2026年03月13日 /  試験・分析・測定
    ESD試験 ESD試験とは ESD試験とはESD事故を防止、管理するために、各種ESD（静電気放電）耐性を確認、評価する試験です ●国内外の公的試験規格（表1）に準拠したESD試験をご提供します。●試験規格に関するご質問や…
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