対応試験の紹介
■気密封止パッケージ内部ガス分析(IVC)
半導体の信頼性を左右する大きな要因の1つが微量水分です。この試験では、セラミック・メタル・ガラスなどにより封止された中空パッケージ内の封止ガス中に含まれる水分やガス成分の定性・定量を行います。主な対象は、電子デバイス(化合物半導体・レーザーダイオード・水晶発振器・SAWフィルタなど)、放電管、ランプなどです。
【定性・定量可能成分】
水分、アルコール、水素、酸素、ヘリウム、アルゴン、メタン、二酸化炭素(炭酸ガス)、アンモニア、フルオロカーボン、ネオン、炭化水素、窒素、クリプトン、一酸化炭素、キセノン
試験所所在地
- 東京都練馬区
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