対応試験の紹介
実使用状態や実装工程で生じた部品の故障状況を把握し、電気特性の測定や様々な観察・解析をする事により故障原因の究明を行うのが[故障解析]です。故障を発生させている原因を特定し、製造ロットの特定から問題の広がりを最低限に抑え、製造または使用上の改善を導く事で、製品の品質と製造者の信頼性を確保する事を目的としています。LSI・抵抗・コンデンサ・スイッチ・コネクタ・プリント回路基板等電子部品から電気部品・接点の故障まで広範囲の故障解析を実施しています。
故障原因を追究するために客観的評価解析の豊富な実績に基づきさまざまな調査をいたします。 また、具体的な故障解析手法としては、実際に解析作業を行う前の発生状況を十分に調査し、故障内容を的確に把握したうえで、電気的特性検査および、物理的・化学的な検査・解析を行います。それらの結果得られた情報から、故障のメカニズムを推定していきます。
対象材料・部品・装置
- 電気・電子材料
- 電子デバイス
- 電子・電気機器
試験所所在地
- 東京都練馬区
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