工程解析・競合製品解析・不良解析・反応解析

私達は、40年以上に亘り旭化成グループの研究開発および繊維、樹脂、触媒、石油化学品原料、医療・医薬品、電子材料、半導体、建築材料等の多様な素材、部品、デバイスなどの幅広い製品群の製造と品質を支えてきた解析・分析技術を活かし、皆様方の色々な解析ニーズに対して、信頼性のある情報を迅速に提供させていただきます。

 

1. 質の高い分析および計算サービスをご提供します。
2. 客様のご要望に応えて特注の分析を設計します。
3. 材料分析と計算機シミュレーションを融合的に活用し、研究・開発支援を行います。
4. 十分な事前相談を踏まえた上で、課題解決に至る最適なアプローチデザインをご提案します
5. 問題解決型テーマでのソリューションをご提供します。
   ・研究開発における原理解明
   ・生産ラインのトラブル解消、収率アップ
   ・製品クレームの原因解明
   ・取得時や係争時の特許対策
   ・他社品、市販品の解析
   ・管理・ルーチン分析法の開発

 

 

有機解析技術
試料調製	特殊染色法によるポリマーアロイ界面層の観察 硬さの異なる複合材料の超薄切片作成による界面観察 斜め切削法を用いた薄膜の深さ方向解析 FIBマイクロサンプリング法による試料作製技術 →無機・有機複合材料などの迅速薄片試料作製 マイクロマニピュレータを使用した微小物のサンプリング 微量試料の溶媒分離
有機材料解析	有機微小物 顕微レーザーRAMANによる、微小異物の同定 吸水性樹脂の顕微IRイメージングでの解析 表面化学種の深さ方向解析 顕微IRによるPC表層における変性挙動のマッピング 組成分布、有機薄膜解析 IR, NMR, MSを駆使した微量試料の有機組成解析（添加剤など） および分子構造解析 希薄濃度物質(ppb以下)の同定・定量 臭気、残存モノマー・溶媒 固相マイクロ抽出（SPME）を用いた微量物質の迅速分析 各種加熱発生ガス （同定、温度依存性） 各種材料の組成解析 熱分解GC/MS法による樹脂の解析 NMRによる高分子構造の精密解析 高分子末端解析（MALDI-TOF/MS） Si-NMRによる反応解析 硬化物の構造解析 分子量分布測定 イオン性物質の解析

 

ナノ構造解析技術
形態解析	SEMによる極表面微細構造観察 薄膜SEM法による複合材料の高分解能観察 EPMAによる微小部および薄膜の化学状態分析 FE-TEM/EDXによるnmオーダーの局所元素分析 収束電子回折法による局所の結晶格子歪み、欠陥の解析
構造解析	二次元共焦点ミラー付き小角散乱測定装置によるナノ構造の評価 in-situ X線分析技術 Rietveld法による結晶構造の精密構造解析 多核高分解能固体NMRによる化学状態解析(C、Si、Al、Na、Li、F)
薄膜/表面/界面解析	高精度研磨技術による試料作製技術：シリコン樹脂 /TiO2フィラー界面の解析 微小部の非破壊薄膜構造評価技術 TOF-SIMSによる極表面（原子層レベル）の質量分析 凍結法（湿潤状態の固定）による表面解析技術 AFMによる相分離構造の観察 表面にブリードアウトした液状添加剤の観察 SPM技術（水中、加熱環境）による極表面の物性評価およびマッピング デバイス異常部の汚染物質の分析 TOF-SIMSによる付箋紙の付着不良原因の解析 FP-XRFによる多層膜の積層構造(組成および膜厚)の解析 化学ラベル化法XPSを用いたポリマー表面の官能基分析 XPSによる固体極表面の化学状態分析 高分子のフィルムの極表面における結晶解析 微小角入射X線回折法による極薄膜・界面の解析
物性解析	熱分析解析技術 SPMによる微小領域の物性評価技術 AFMによる相分離構造の観察

 

計算機シュミレーション技術

触媒反応の解析と設計 半導体材料の設計 相分離構造（海島構造、多孔質構造、界面厚み）の予測 レオロジー物性（高分子粘弾性）の予測 熱、気体の流れ解析；邸別住環境シミュレーション 多孔質内の流体の流れ解析

 

 

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ご連絡いただきましたご質問・ご要望に対しては誠意をもって対応させていただきます。