| 有機材料解析装置 |
- フーリエ変換赤外分光光度計【FT-IR】
- 熱走査赤外分光光度計
- レーザーRAMAN
- μ-マニピュレーター
- ガスクロマトグラフ質量分析計【GC/MS】
- 液体クロマトグラフ／質量分析装置【LC/MS】
- マトリックス支援レーザー脱離イオン化 飛行時間型質量分析計【MALDI-TOF/MS】
- フーリエ変換核磁気共鳴分析装置【FT-NMR】
- 固体高分解能核磁気共鳴分析装置【solid-state NMR】
- パルス核磁気共鳴装置【パルスNMR】
- サイズ排除クロマトグラフィー【GPC：SEC】
- イオンクロマトグラフ【IC】
|
 |
| 形態解析装置 |
- 透過型電子顕微鏡【TEM】
- 走査型電子顕微鏡【SEM】
- 集束イオンビーム加工観察装置【FIB】
|
 |
| 無機材料解析装置 |
- 微小角入射X線散乱装置【GIXS】
- X線回折装置【XRD】
- 精密格子定数測定装置
- 蛍光X線分析装置【XRF】
- 固体高分解能核磁気共鳴分析装置【solid-state NMR】
|
 |
| 表面解析装置 |
- X線光電子分光分析装置【XPS】
- オージェ電子分光装置【AES】
- 二次イオン質量分析装置【SIMS】
- 飛行時間型二次イオン質量分析装置【TOF-SIMS】
- 走査型プローブ顕微鏡【SPM】
- 電子線プローブX線マイクロアナライザー【EPMA】
|
 |
| 物性解析装置 |
- DSC
- TG/DTA
- TMA/SS
- 動的粘弾性測定装置
|
|
| 科学技術計算 |
|
|
|
検索
ログイン