■表面観察

　・走査透過電子顕微鏡(STEM)：日立 HD-2700

　・走査電子顕微鏡(SEM-EDX)：日立 SU6600

　・走査電子顕微鏡(SEM-EDX)：日立 S-4800
　・走査電子顕微鏡(SEM-EDX、WDX)：日立 S-3500N
　・走査電子顕微鏡(SEM-EDX)：日立 S-3700N

　・透過電子顕微鏡(TEM-EDX)：日立 HF-2100
　・透過電子顕微鏡(TEM-EDX)：日立 H-9000NAR
　
■耐摩性評価
　・ピンオンデイスク摩耗試験機
　・ファレックス摩耗試験機
　・往復摺動摩耗試験機
　・ころがり摩耗試験機
　・フレッチング摩耗試験機
　・磁歪振動型微小変位摩耗試験機
　・周速摩耗摩擦試験機

■表面観察（加工観察）
　・集束イオンビーム(FIB)：日立 FB-2100

■四角強度評価（機械試験）
　・精密万能試験機（100N～100kN）
　・精密万能試験機（100N～100kN、2.5N～25kN）
　・万能試験機
　・シャルピー衝撃試験機
　・硬さ試験機（ロックウエル、ブリネル、ショアー）
　・硬さ試験機（ビッカース）
　・表面あらさ計

■組成分析（元素分析）
　・蛍光X線分析装置(XRF)：理学電機 3270
　・昇温脱離ガス分析装置(TDS)：ESCO電子科学 EMD-WA1000
　・イオンクロマトグラフ(IC)：ダイオネクス DX-500、DX-320
　・イオンクロマトグラフ(IC)：ダイオネクス SIC-1500、SIC-2000
　・イオンクロマトグラフ(IC)：ダイオネクス DX-100
　・ガスクロマトグラフマトグラフ(GC)：日立 G-3000
　・ガスクロマトグラフマトグラフ(GC)：日立 663-30
　・ガスクロマトグラフマトグラフ(GC)：日立 G3900
　・ガスクロマトグラフマトグラフ(GC)：日立 163
　・ガスクロマトグラフマトグラフ(GC)：島津 GC-2010

■強度評価
　・ひずみ測定器
　・疲労試験装置
　・疲労解析装置

■表面分析（元素分析）
　・マーカス型高周波グロー放電発光分光分析装置：堀場製作所 GD-Profiler2

　・走査型オージェ電子分光分析装置（AES)：アルバック・ファイ PHI 700Xi

　・X線光電子分光分析装置(XPS)：島津／クラトス AXIS-HS
　・X線光電子分光分析装置(XPS)：アルバック・ファイ PHI5000 VersaProbe Ⅱ

■シミュレーション
　・応力解析装置
　・鋳造解析装置

■結晶構造解析
　・X線回折装置(XRD)：理学電機 RU-300
　・X線回折装置(XRD)：理学電機 RAD-B
　・高分解能X線回折装置(XRD，XRR)：理学電機 ATX-G
　・多機能X線回折装置(XRD)：理学電機 RINT2500HL
　・X線回折装置(XRD)：日本電子 JDX-8030
　・X線回折装置：PANalytical製 X'pert PRO-MPD PW3040/60 DY2310
　・X線回折装置(XRD)：理学電機 RINT2500HL
　・X線回折装置(XRD)：ブルカー・エイエックスエス製D8ADVANCE/L
　・フェライト測定器

■腐食評価
　・全自動分極測定装置
　・還流型腐食試験装置
　・高温、高圧小型腐食試験装置
　・電気化学腐食測定システム

■有機構造解析（分子構造、元素分析）
　・フーリエ変換型赤外分光光度計(FT-IR)：バイオ・ラッド FTS-40A
　・フーリエ変換型赤外分光光度計(FT-IR)：DIGILAB FTS3000 MX
　・フーリエ変換型赤外分光光度計(FT-IR)：パーキンエルマ 1650
　・ガスクロマトグラフ質量分析計(GC-MS)：日立 M-2500
　・ガスクロマトグラフ質量分析計(GC-MS)：島津 OP-5000
　・ガスクロマトグラフ質量分析計(GC-MS)：HP 5890/5971A
　・ガスクロマトグラフ質量分析計(GC-MS)：日本電子 JMS-700M Station
　・核磁気共鳴分析装置(NMR)：日本電子 GSX-400
　・核磁気共鳴分析装置(NMR)：日本電子 ECA500

・分光光度計(UV-NIR)：日立 U-4100

■組織外観観察
　・万能投影機
　・システム光学顕微鏡
　・偏光顕微鏡
　・光学顕微鏡
　・大型マクロ写真装置

■放射能分析
　・γ核種放射能測定装置：セイコーEG&G MCA-7700
　・α核種放射能測定装置 ：アロカ JDC-8170
　・α・β核種放射能測定装置 ：アロカ LBC-471-P
　・β核種放射能測定装置 ：アロカ LSC-5000

■食品分析
　・ガスクロマトグラフ質量分析計（GC-MS/MS）
　・液体クロマトグラフ質量分析計（LC-MS/MS）

■その他
　・X線残留応力測定装置：理学電機 PSF-2M
　・微粒子自動計測器：ハイアックロイコ 4100