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ログイン東京都にある 株式会社アイ・アール・システムの会社情報です。
事業概要
、製品・技術・サービス
、設備紹介
などを掲載しています。
株式会社アイ・アール・システムの事業概要
アイ・アール・システムは赤外線を中心とした光計測機器・部品、半導体関連装置、医療関連装置まで、国内・海外を問わずユニークで優れた先端技術を皆様にご紹介しております。製品のメンテナンスには専属の技術者と設備を擁しており、短時間での修理・キャリブレーションが可能です。
株式会社アイ・アール・システムの製品・技術・サービス
黒体炉
分光放射計測装置
赤外カメラ評価装置・コリメーター
赤外レンズMTF測定装置
赤外センサ評価装置
赤外透過率測定器（カスタム）
テラヘルツ関連装置
防衛用レーザー試験装置
赤外カメラ・サーモグラフィー
（サーモグラフィー在庫セール品あり）
近赤外線カメラ
赤外検出器
赤外窓・フィルタ・レンズ （ストック品あり・特注も可）
赤外カメラレンズ(ストック品・中古品あり・特注も可）
超小型非接触表面粗さ測定機
ダイナミック干渉計
小型フィゾー干渉計
大型三脚
噴射ノズル評価装置
インライン薬液濃度モニター
半導体プロセス温度モニター
超高感度エミッション顕微鏡
放射率測定サービス
分光特性測定サービス
赤外関連機器レンタルサービス
赤外関連中古機器販売
分光放射計測装置
赤外カメラ評価装置・コリメーター
赤外レンズMTF測定装置
赤外センサ評価装置
赤外透過率測定器（カスタム）
テラヘルツ関連装置
防衛用レーザー試験装置
赤外カメラ・サーモグラフィー
（サーモグラフィー在庫セール品あり）
近赤外線カメラ
赤外検出器
赤外窓・フィルタ・レンズ （ストック品あり・特注も可）
赤外カメラレンズ(ストック品・中古品あり・特注も可）
超小型非接触表面粗さ測定機
ダイナミック干渉計
小型フィゾー干渉計
大型三脚
噴射ノズル評価装置
インライン薬液濃度モニター
半導体プロセス温度モニター
超高感度エミッション顕微鏡
放射率測定サービス
分光特性測定サービス
赤外関連機器レンタルサービス
赤外関連中古機器販売
企業プロフィール
- 企業名
- 株式会社アイ・アール・システム
- 企業名かな
- あい・あーる・しすてむ
- 住所
- 〒192-0355
東京都八王子市堀之内2-10-5 - 最寄り駅
- 京王相模原線 京王堀之内
- 代表者名
- 新坂誠宏
- 設立年月日
- 1993年05月25日
- 資本金
- 1000万円
- ホームページ
- 株式会社アイ・アール・システムのホームページ