最大出力3kV。プリント基板、電子材料などの絶縁劣化を高速検知［J-RAS］

No.1219　2011年3月28日

●　最大3kVの高電圧印加電圧で絶縁劣化を連続計測・収録

J-RAS株式会社様が開発した「HVUsシリーズ」は、最大3kVの印加電圧を出力
する多チャンネル絶縁信頼性評価装置です。パソコンとの連動により、自動
データ計測や収録が可能。ワイドギャップ半導体などの高電圧デバイスや
ケーブルなどの絶縁劣化を連続でモニタリングできます。


　　　※※※※※※※※【 ここにフォーカス 】※※※※※※※※

　　　　　フィードバック制御で正確で安定した電圧を印加
　　　　　　高電圧絶縁信頼性試験装置「HVUsシリーズ」

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■　高電圧デバイスの評価が可能に
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「HVUsシリーズ」は、最大3kVの高電圧出力回路とフィードバック制御をチャ
ンネル毎に搭載。高電圧でも妥協しない設計で、他チャンネルに影響されず、
常に設定電圧を維持する安定した電圧印加を実現。1台で最大40チャンネル
の試験が可能です。

また、独自の検出回路で、瞬間的なサンプルの絶縁劣化を高速検知。短絡検
出と同時に印加電圧をOFFし、高電圧の漏電を防止します。外部信号による
緊急停止機能を備え、安全面でも充実した機能を搭載しています。更に、故
障の原因となる機械式リレーを使わないため、高い信頼性を実現しています。


■　リーク電流、絶縁抵抗値の変化をわかりやすく表示
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パソコンの専用ソフトウェアと連動することで、複数サンプルのリーク電流、
絶縁抵抗値の変化をわかりやすく表示。長時間の連続計測も可能です。計測
データはCSVファイルの出力機能により、様々なソフトウェアで活用が可能。
EXCELなどによるグラフ描画や編集が行えます。

計測チャンネル数、印加電圧、電流出力容量などの仕様についてはカスタマ
イズも可能です。オプションにより高電圧定電流TDDB試験にも対応。小型・
軽量で設置場所を選びません。


プリント基板や電子材料などの重要な評価項目である絶縁信頼性（イオンマ
イグレーション）に関連した商品の開発、販売、受託試験を行う同社。高電
圧絶縁信頼性試験装置についてのご質問やご要望など、お気軽にお問い合わ
せください。