100ナノ秒以下での絶縁劣化を検出可能な高電圧テスター［J-RAS］

No.1495　2012年9月18日

● 部分放電による瞬間的な電流を捕えた試験データを提供

最大3000Vの高電圧を印加でき、絶縁劣化を連続して計測・収録できるJ-RAS
株式会社様の高電圧テスター。このたび「HVUsシリーズ」がさらに進化しま
す。

部分放電による瞬間的な電流を捕らえる事により、今まで判らなかった絶縁
劣化する前段階でのサンプル変化が表示可能に。さらに、チャンネル毎に異
なる電圧が設定できるようになるなど、盛りだくさんの機能を備え、2013年
にリリースします。


　　　　※※※※※※※※【 ここにフォーカス 】※※※※※※※※

　　　　　　全チャンネル100nsec以下での絶縁劣化を検出可能
　　　　　　　　　部分放電に対応する高電圧テスター

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■　一度に様々な電圧での評価が可能。試験効率が大幅アップ
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新バージョンの高電圧テスター「HVUsシリーズ」は、電圧の印加機能が進化
し、チャンネル毎に異なる電圧を設定できます。

50V～3000Vの間でチャンネル個別の電圧設定が可能なため、一度に様々な電
圧での評価が実行でき、試験効率が大幅にアップします。もちろん、電圧制
御もチャンネル個別で正確な電圧印加を行えます。


■　1台のPCで、最大4ユニット・合計160チャンネルの計測を実現
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1台のPCで、最大4ユニット・合計160チャンネルの計測を実現。小型軽量で、
設置場所に悩む必要もありません。

デジタル入出力端子も標準装備。外部からの接点入力による試験中断、試験
中の警告灯の制御なども配線するだけの手軽さです。


高電圧電子デバイスやケーブル等の絶縁評価装置について、お気軽にお問い
合わせください。