1チャンネルごとに電圧設定が可能。100ナノ秒以下での絶縁劣化を検出［J-RAS］

No.1568　2013年2月22日

●　3000Vを出力できる高電圧電源を各チャンネルごとに搭載

開発段階の試作サンプルを評価する「絶縁信頼性試験装置」に求められるの
は、一度により多くの試作サンプルの試験ができること。
J-RAS株式会社様が開発した、3000Vまで出力可能な「高電圧絶縁信頼性試験
装置」は、多チャンネルの試験装置で、多彩な試験条件が設定可能です。
試験効率を大幅にアップさせるメリットがあります。


　　※※※※※※※※【 ここにフォーカス 】※※※※※※※※
　　
　　　　最大4ユニット・合計160チャンネルの計測を実現
　　一度に多数の試作試験に対応「高電圧絶縁信頼性試験装置」
　　
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■　多チャンネルの試験装置で、多彩な試験条件を設定
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高電圧絶縁信頼性試験装置「HVUsシリーズ」が大幅にバージョンアップし、
高性能テスター「HVUαシリーズ」として登場です。

従来は5チャンネル毎に1つの電圧しか設定できませんでしたが、本装置は、
チャンネル毎に異なる電圧設定が可能。しかも、出力3000Vの高電圧電源を
搭載しています。一度に複数の条件で試験が実行できるため、より効率的な
絶縁信頼性評価試験を行うことができます。


■　絶縁信頼性の劣化の進行を早期に検出
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本装置は、絶縁抵抗だけでなく、部分放電も検出できます。部分放電は、絶
縁抵抗値の劣化の前段階で起こる現象で、劣化の進行を従来の装置よりも早
い段階で検出が可能です。

今まで判らなかった絶縁劣化の前段階でのサンプル変化が新たに表示され、
高電圧デバイス等の試験データに、更なる付加価値を提供します。


ケーブル絶縁被膜や、高電圧デバイス、コンデンサの絶縁信頼性評価などに
活用される「HVUαシリーズ」。100n秒以下での絶縁劣化を検出でき、自動
車部品や、電気機器の評価にも最適です。小型・軽量で、設置場所も選ばな
い、高電圧絶縁信頼性試験装置ついて、お気軽にお問い合わせください。