株式会社日産アークの設備紹介

C,H,N,O,S測定装置
FIB セイコーインスツルメンツ
X線回析装置
X線残留応力測定装置
X線透過装置
X線CT装置
イオンクロマトグラフ
エレクトロンプローブマイクロアナライザ
オージェ電子分光分析装置
ガスクロマトグラフ
キャピラリー電気泳動分析装置
セラミックス高温曲げ試験機
ダイナミック被膜硬度計
デジタル静的材料試験機
ビッカース硬度計
フーリエ変換赤外分光光度計
フーリエ変換赤外分光分析装置
ブリネル硬度計
マイクロフォーカスX線透過装置
メルトフローインデクサー
レーザーフラッシュ式熱定数測定装置
レーザーラマン分光分析装置
レーザスペックル歪み計
レーザラマン分光分析装置
ロックウェル・スーパーフィシャル硬度計
ロックウェル硬度計
液体クロマトグラフ
荷重たわみ温度測定装置
核磁気共鳴分析装置
観察、接写装置
極点図形測定装置
蛍光X線分析装置
蛍光分光光度計
顕微フーリエ変換赤外分光光度計
顕微フーリエ変換赤外分光分析装置
原子吸光分析装置
固体核磁気共鳴分析装置
固体発光分光分析装置
光学顕微鏡
高温X線回析装置
高温顕微-硬度計
高温動的弾性率測定装置
高速画像処理装置
高分解能透過型電子顕微鏡
紫外可視分光光度計
試料研磨装置
示差走査熱量計
示差熱量重量測定装置
質量分析計
小型万能試験機
衝撃試験機
全自動樹脂引張試験機
全自動樹脂曲げ試験機
全自動微小ビッカース硬度計
走査型X線光電子分光分析装置
走査型プローブ顕微鏡
走査型電子顕微鏡
多機能データ処理装置
炭素硫黄同時分析装置
電界放射型オージェ電子分光分析装置
電界放射型走査電子顕微鏡
電界放射型透過型電子顕微鏡
電子線三次元形状解析装置
透過型電子顕微鏡
透過型電子顕微鏡試料作成装置
二次イオン質量分析装置
熱機械分析装置
薄層クロマトグラフ
疲労試験機
飛行時間型二次イオン質量分析用データ処理装置
微小ビッカース硬度計
微小部X線回析装置
微量窒素定量装置
表面粗さ測定装置
複合表面分析装置
分光光度計
万能強度試験機
誘導結合プラズマ発光分光分析装置

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