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イミュニティ試験（電波暗室）
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| 放射イミュニティ試験 | BCI試験 | 近接照射試験 |
| 試験項目 | 試験レベル 他 |
| 放射イミュニティ試験 （放射電磁界試験） |
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| BCI試験 （バルクカレント インジェクション） |
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| 近接照射試験 （近傍電磁界試験） |
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| 高周波接触試験 |
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対応規格
- EN 61000-4-3
- IEC 61000-4-3
電波暗室 設備概要
- EUT搬入口
- ：1.4m（W）×2.0m（H）
- 電源容量
- ：単相 100V系 15A 50Hz/60Hz
単相 230V/240V 15A 50Hz/60Hz
三相 200V 50A 50Hz
三相 400V 30A 50Hz
イミュニティ試験（シールドルーム2）
| 試験項目 | 試験レベル 他 |
| 静電気試験 |
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| 半導体デバイス用 静電気試験 |
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| ファストトランジェント バースト試験 |
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| 雷サージ試験 |
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| 伝導イミュニティ試験 |
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| 電源周波数磁界試験 |
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| 電圧ディップ・瞬断試験 |
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| 方形波インパルス ノイズ試験 |
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| 減衰振動波試験 |
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対応規格
- IEC 61000-4-2
- IEC 61000-4-8
- ISO 10605
- AEC Q100
- IEC 61000-4-4
- IEC 61000-4-11
- JEMA TR177
- B-402
- IEC 61000-4-5
- IEC 61000-4-18
- NECA TR-28
- EIAJ ED-4701
- IEC 61000-4-6
シールドルーム 設備概要
- 電源容量：
- 単相 100V系 15A 50Hz/60Hz
単相 230V/240V 15A 50Hz/60Hz
三相 200V 50A 50Hz
三相 400V 30A 50Hz
イミュニティ試験（シールドルーム3）
| 試験項目 | 試験レベル 他 |
| GTEMセルによる 放射イミュニティ試験 |
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| 過渡電圧サージ試験 （ISO 7637-2） |
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| 過渡電圧サージ試験 （ISO 7637-3） |
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| 過渡電圧サージ試験 （JASO D001-94） |
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| DC電圧変動試験 （ISO 16750-2） |
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| 電源回路正サージ試験 （ロードダンプ） |
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| 電源回路負サージ試験 （フィールドディケイ） |
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| 試験レベル |
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対応規格
- ISO 7637-2
- ISO 7637-3
- ISO 10605
- ISO 16750-2
- JASO D001-94
シールドルーム 設備概要
- 電源容量：
- 単相 100V系 15A 50Hz/60Hz
単相 230V/240V 15A 50Hz/60Hz
三相 200V 50A 50Hz
三相 400V 30A 50Hz
エミッション測定
| 測定項目 | 主な対応規格 |
| 放射エミッション測定
※簡易測定のため規格準拠ではありません |
※簡易測定のため規格準拠ではありません |
| 伝導エミッション測定 |
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| 妨害波電力測定 |
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| プリント基板 ノイズ放射マップ測定 |
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| 空間電磁界可視化測定 |
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お問い合わせ
様々な場面でEMC問題が深刻化している現代、電子機器に対するEMC評価は製品の品質を担保する上で不可欠となっています。ノイズ研究所の製品群を主体とする数々の試験設備を、高度な試験技術とともにリーズナブルな料金でご利用ください。
試験方法に関するアドバイスなどもいたしますので、まずはお気軽にお問い合わせ下さい。
