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OKIエンジニアリングで対応可能な試験及びAEC規格について紹介します。■AEC-Q200 受動部品を対象(コンデンサ・インダクタ[コイル]・抵抗等)・ストレス試験前後での電気的特性検査 (ストレス試験前後の電気的特性…
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OKIエンジニアリングで対応可能な試験及びAEC規格について紹介します。■AEC-Q101 個別半導体(ディスクリート)部品を対象 (コンデンサー・トランジスタ・ダイオード等)・ストレス試験前後の電気的特性取得・前処…
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OKIエンジニアリングで対応可能な試験及びAEC規格について紹介します。■AEC-Q100 半導体集積回路(IC)を対象◆AEC-Q100 TEST GROUP A 環境ストレス試験・前処理 SMD only:Moisture Preconditioning JESD22-A113 J-…
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