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対応試験の紹介

車載用電子部品の信頼性試験(AEC-Q100)

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OKIエンジニアリングで対応可能な試験及びAEC規格について紹介します。

■AEC-Q100 半導体集積回路(IC)を対象
◆AEC-Q100 TEST GROUP A 環境ストレス試験
・前処理 SMD only:Moisture Preconditioning
 JESD22-A113
 J-STD-020

・高温高湿バイアス試験
・超加速寿命試験
 JESD22-A101
 JESD22-A110

・オートクレーブ
・バイアスなし超加速寿命試験
 JESD22-A102 or JESD22-A118

・温度サイクル試験
 JESD22-A104

・パワー温度サイクル試験
 JESD22-A105

・高温保管試験
 JESD22-A103


◆AEC-Q100 TEST GROUP B 加速寿命試験
・高温動作寿命
 JESD22-A108

・初期不良
 AEC-Q100-0008

・繰り返し書き換え試験、データ保持試験
 AEC-Q100-0005


◆AEC-Q100 TEST GROUP C パッケージアセンブリ保全試験
・ワイヤボンディングシェア強度
 AEC-Q100-001

・ワイヤボンディング引っ張り強度
 MIL-STD-883 Method 2011

・はんだ濡れ性
 JESD22-B102

・デバイスの外見寸法確認
 JESD22-B100
 JESD22-B108

・はんだボンディングシェア強度
 AEC-Q100-010

・端子強度
 JESD22-B105


◆AEC-Q100 TEST GROUP D ダイレベル信頼性試験
・エレクトロマイグレーション
 JESD61

・経時的酸化膜寿命
 JESD35

・ホットキャリア注入試験
 JESD60&28

・負バイアス温度不安定性
 JESD90

・ストレスマイグレーション
 JESD61, 87, &202


◆AEC-Q100 TEST GROUP E 電気的特性確認
・Pre and Post Stress Electrical Test

・人体モデル
 AEC-Q100-002

・デバイス帯電モデル
 AEC-Q100-011

・ラッチアップ
 AEC-Q100-004

・特性選別
 AEC-Q100-009


◆AEC-Q100 TEST GROUP F キャビティーパッケージ試験(セラミックパッケージ)
・衝撃試験
 JESD22-B104

・振動試験
 JESD22-B103

・定加速度試験
 MIL-STD-883 Method 2001

・ファインリーク試験
・グロスリーク試験
 MIL-STD-883 Method 1014

・落下試験

・ダイシェアテスト
 MIL-STD-883 Method 2019

・内部水蒸気の含有率試験
 MIL-STD-883 Method 1018

対象材料・部品・装置

  • 電子・電気機器
  • 自動車・輸送機器

試験方法

電気的な特性を調べる

対応工業規格

  • AEC-Q100-0005
  • AEC-Q100-0008
  • AEC-Q100-001
  • AEC-Q100-002
  • AEC-Q100-004
  • AEC-Q100-009
  • AEC-Q100-010
  • AEC-Q100-011
  • J-STD-020
  • JESD22-A101
  • JESD22-A102
  • JESD22-A103
  • JESD22-A104
  • JESD22-A105
  • JESD22-A108
  • JESD22-A110
  • JESD22-A113
  • JESD22-A118
  • JESD22-B100
  • JESD22-B102
  • JESD22-B103
  • JESD22-B104
  • JESD22-B105
  • JESD22-B108
  • JESD35
  • JESD60&28
  • JESD61
  • JESD61
  • 87
  • &202
  • JESD90
  • MIL-STD-883 Method 1014
  • MIL-STD-883 Method 1018
  • MIL-STD-883 Method 2001
  • MIL-STD-883 Method 2011
  • MIL-STD-883 Method 2019

試験所所在地

  • 埼玉県本庄市
参加ポータル
試験・分析.com