対応試験の紹介
■基板清浄度評価サービス
OKIエンジニアリングでは、イオンクロマトグラフィ分析を行い、基板の清浄度だけでなく基板表面のイオン成分量を測定し、どのイオンによって汚染されているかなどを分析、原因を調査します。また、基板以外の水溶性イオン成分の清浄度評価も行っています。
対象材料・部品・装置
- 電子デバイス
- 電子・電気機器
試験所所在地
- 東京都練馬区
- サイト内検索
- オフィシャルサイト
- ページカテゴリ一覧
- 新着ページ
-
- 人とくるまのテクノロジー展 2025 YOKOHAMAに出展 (2025年04月21日)
- REACH規則SVHC 第31次 1物質分析サービス開始 (2024年07月12日)
- EMI要求事項を定めた規格「CISPR 11:2024(第7版)」に対応 (2024年07月02日)
- 医療機器のEMC試験に関するWEBページ新設 (2024年04月11日)
- 界面活性剤を含んだ試験液による落下水滴試験(IP試験) (2024年02月16日)