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燃焼イオンクロマトグラフ法(C-IC法)によるハロゲン分析

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 / 2026年01月27日 /  化学・樹脂 電子・半導体 試験・分析・測定

燃焼イオンクロマトグラフ法(C-IC法)によるハロゲン分析

ハロゲン系難燃剤(塩素・臭素化合物)や三酸化アンチモン(難燃助剤)は、電子部品用樹脂材料などで広く使用されてきました。ハロゲン系難燃剤を含む材料を不適切な条件で焼却した場合、ダイオキシン類などの有害生成物が生成される可能性があります。

近年、健康・環境への配慮や顧客要求の高まりを背景に、ハロゲンフリー・アンチモンフリー化が進んでいます。日本電子回路工業会(JPCA)、米国電子回路協会(IPC)では一般的に塩素・および臭素がその対象となり塩素900 ppm 臭素 900ppm 塩素+臭素1500ppm の定義となっています。
当社では、材料中のフッ素[F]、塩素[Cl]、臭素[Br]などのハロゲンおよびアンチモン[Sb]の含有量分析をご提供します。

  • 電子部品材料などのハロゲン:フッ素[F]、塩素[Cl]、臭素[Br]分析
  • 各種材料中の硫黄[S]、アンチモン[Sb]分析

燃焼イオンクロマトグラフ法(C-IC法)

試料を加熱部(石英管内)で完全燃焼させ、発生したハロゲンガスを吸収液に捕集します。吸収液中のハロゲンをイオンクロマトグラフで測定し、材料中のハロゲン含有量を求めます。

 

                

適用例

    • プラスチック樹脂中のハロゲン分析
    • はんだ材料中のCl、Br、S分析
    • プリント基板(電子材料)中のハロゲン分析
    • PFOS/PFOA含有のスクリーニング分析(F)
    • RoHS指令 臭素系難燃剤(PBB、PBDE)のスクリーニング分析(臭素)

燃焼フラスコ燃焼法分析

酸素フラスコ燃焼法前処理+イオンクロマトグラフ法で、試料を燃焼させて、吸収液中(水またはアルカリ吸収液を入れたフラスコ内)のイオンクロマトなどで測定し、ハロゲン含有量を求める方法でハロゲンフリー分析をおこないます。

      

            

   酸素フラスコ燃焼法前処理+イオンクロマトグラフ法によるハロゲンフリー分析

関連規格

規格番号規格名称対象元素および閾値
IEC62321-3-2 燃焼イオンクロマトグラフィーによるポリマーおよび
電子機器内のフッ素、塩素および臭素
F、Cl、Br
IEC 61249-2-21
JPCA-ES01
IPC 4101B
電気電子機器業界におけるハロゲンフリーの定義 Cl:900ppm以下
Br:900ppm以下
Cl+Br:1500ppm以下
JIS K6233 ゴム−イオンクロマトグラフィーによる全硫黄の求め方(定量) S
JIS Z7311 廃棄物由来の紙,プラスチックなど固形化燃料(RPF) 全Cl:0.3wt%以下(RPF-A)
JIS K7392 廃プラスチック−全臭素分析試験方法 Br

   

アンチモンフリー分析

三酸化アンチモン(アンチモンとして) をマイクロウェーブ分解法-ICP質量分析法で分析・評価いたします。お気軽にお問い合わせください。

測定項目前処理方法・測定方法報告下限値
アンチモン[Sb]

マイクロウェーブ分解法-ICP質量分析法

もしくはマイクロウェーブ分解法-ICP発光分析法

10ppm

   

燃焼イオンクロマトグラフ法によるハロゲン分析のお問い合わせ

燃焼イオンクロマトグラフ法によるハロゲン分析について、OKIエンジニアリングまでお気軽にお問い合わせください。

製品概要 燃焼イオンクロマトグラフ法(C-IC法)を用いて、各種材料中のハロゲン(F/Cl/Br)や硫黄(S)などを定量します。
樹脂、はんだ、プリント基板など電子部品材料を中心に、ハロゲンフリー/アンチモンフリー対応の確認や、RoHS・REACH等の要求に向けたスクリーニング評価に利用できます。
特徴 電子部品材料などのハロゲン:フッ素[F]、塩素[Cl]、臭素[Br]分析
各種材料中の硫黄[S]、アンチモン[Sb]分析
製品名・型番等
シリーズ名
イオンクロマトグラフ分析(IC)