株式会社テストラム

①【ICカード・タグテスター】

 

1）T8200PRO［共振周波数検査機］

 

誰でも使える“使い勝手”はそのままにT8200シリーズは進化しています

 

【T8200PRO】は、非接触ICカード・NFCタグIDリード対応の共振周波数検査機。1 台で、LF帯・HF帯の検査(共振周波数、減衰量、Q値、オプションでID読取)が可能。印加パワーの設定範囲は－30～＋15dBmで、高印加パワー時の共振特性を確認できる。IC実装前RFIDアンテナ(低損失)の自己共振周波数検査、プローブ(別売り)を接続しての透過特性・反射特性検査も可能。

 

 

 

 

2）T8300MkII［非接触カードの評価装置］

 

 

「ISO14443準拠」の安心を、あらゆる非接触ICカードに。

 

ISO14443に規定された、非接触ICカードの能力を測定します。
リーダライタからの信号を自在に変化させ、RFの強さ、変調度、周波数、変調タイミングなどに、
対応できる範囲を明らかにします。ICの受信能力及び、ICからの送信信号の特性を数値化します。

※タイプA・タイプB・ソニー製FeliCa（タイプC）対応。
（注）「FeliCa(フェリカ)」は、ソニー株式会社の登録商標です。

 

 

 

 

3）T8200［量産向け装置］

 

アンテナ品質バラツキの心配から、お客様を全速力でお守りします。

 

量産を意識した、ICタグ・ICカードのアンテナの共振周波数とQ値を測定する検査装置です。

同時測定数は8～32アンテナ。一回の測定に必要な時間は、わずか0.5秒。
量産現場で求められる、高いスループットとコストパフォーマンスを実現し、
さらに品質の安定したICタグ・ICカードの出荷をサポートします。

 

アンテナデザインの変更などのリクエストにも対応します。
装置はコンパクトで、生産装置への組込みも可能です。
生産ラインに組み込む際には、1chから32chまで同時測定を行いPASS/FAILの判定を行います。

故障しにくく保守も容易で、お客様に「見える」安心感をご提供します。

 

 

 

 

4）T8000［接触カードの検査発行装置］

 

半導体を知り尽くした技術。確実さに支えられた多彩な機能。

 

接触型ICカードのDC測定を自動測定し、
コマンドファイルによるデータエンコードを自動処理する装置です。

ATRの波形モニターも可能です。
操作は、ICカードをテスターに挿入するだけのシンプルさ。検査結果も自動的に出力されます。
生産ラインに組み込む際には、1ch～32chの同時測定を行い、PASS/FAILの判定を実行します。

 

 

 

 

②【ICカード関連装置【生産装置】】

 

1）接触・非接触ICカード検査発行装置

  

2次発行前の、品質への安心を強力サポート。

 

接触型・非接触型ICカードの検査・0次・1次発行を行い、
2次発行前のファイナルテストを行う装置です。

コンビ型・デュアル型のICカードに対応しています。
反り厚み・通信・接触部・非接触部の検査・印字・発行を行い、さらに強電界印加テスト・Q値測定を追加する事もできます。

 

接触・非接触 同時検査・発行を20chの実績で、大量生産を強力にサポートします。
IDデータはホストPCで管理し、いつも「何を生産しているのか分かる」安心感をご提供します。
量産現場で求められる安定・長時間稼動にも、自信があります。

 

 

 

 

2）接触・非接触COT検査発行装置

 

2次発行前の、品質への安心を強力サポート。

 

接触型・非接触型ICカードの検査・0次・1次発行を行い、
2次発行前のファイナルテストを行う装置です。

コンビ型・デュアル型のICカードに対応しています。
反り厚み・通信・接触部・非接触部の検査・印字・発行を行い、さらに強電界印加テスト・Q値測定を追加する事もできます。

接触・非接触 同時検査・発行を20chの実績で、大量生産を強力にサポートします。
IDデータはホストPCで管理し、いつも「何を生産しているのか分かる」安心感をご提供します。
量産現場で求められる安定・長時間稼動にも、自信があります。

 

 

 

 

3）ICカード用モジュール剥がれ検査装置

 

出荷後にわたって、「絶対の安心」を差し上げます。

 

ICカードに長辺方向、短辺方向に応力をかけ、
接触型ICカードに搭載されているICカードモジュールの接着不良を検出する装置です。（検出方法は特許出願中）

このような検査によって、「将来剥がれる可能性のあるモジュール」を検出し、
過酷な場面で用いられるICカードの出荷に、絶大な安心感をご提供します。

 

 

 

 

4）ジャンパー・アンテナ端子溶接装置

 

「剥がれないアンテナ」は、「薄さ・安定品質」というメリットをもたらします。

 

ICタグ、ICカード用アンテナ加工の際、ジャンパー部、アンテナ端子部を抵抗溶接で接合する装置です。

カシメ加工よりも薄く強度が高く、抵抗値のバラツキがないアンテナを製造することが出来ます。
片面エッチングのアンテナにジャンパー移載溶接をすることにより、
両面エッチングが不要になり、生産コストを低減することができます。

またオプションにて、アンテナの共振周波数測定（VRF8200P）、ICタグ特性検査（HF帯、UHF帯対応）を行うことも可能です。

 

 

 

 

5）ホログラム・サインパネル検査装置

 

独自の特殊光学系を駆使。

 

サインパネル（署名欄）、ホログラムを測定、評価することでカードの品質管理向上に寄与します。

本装置は、ＩＣカード券面のホログラム・サインパネルの良否判定を行います。
カードの供給及び収納は専用マガジンを用い、最大６本のマガジンをセット可能です。

また、供給、収納マガジン部にはイオナイザを配置し、カードの徐電及び帯電防止を行います。

 

 

 

 

③【ICカード関連装置【開発装置】】

 

1）曲げストレス耐久試験機

 

ISO/IEC10373-1、又はJISX6305-1、及びISO/IEC CD24789-2:2008-04 準拠

 

ＩＣカードの曲げ特性に関するストレス耐久試験をおこなう装置で、設定回数に達すると自動停止する機能を有します。
連接棒を交換する事により、長辺と短辺を切り替えます。

安全機構として、非常停止スイッチとインターロック式カバーを採用。

本製品は受注生産品につき、納期は弊社営業担当まで。

 

 

 

 

2）ねじれストレス耐久試験機

 

ISO/IEC10373-1、又はJISX6305-1、及びISO/IEC CD24789-2:2008-04 準拠

 

ＩＣカードのモジュール部に特化した曲げ特性に関するストレス耐久試験をおこなう装置で、
設定回数に達すると自動停止する機能を有します。

安全機構として、非常停止スイッチとインターロック式カバーを採用。

本製品は受注生産品につき、納期は弊社営業担当まで。

 

 

 

 

3）モジュール部曲げストレス耐久試験機

 

ISO/IEC10373-1、又はJISX6305-1、及びISO/IEC CD24789-2:2008-04 準拠

 

ＩＣカードのねじれ特性に関するストレス耐久試験をおこなう装置で、設定回数に達すると自動停止する機能を有します。

安全機構として、非常停止スイッチとインターロック式カバーを採用。

本製品は受注生産品につき、納期は弊社営業担当まで。

 

 

 

 

④【半導体テスター】

 

1）V2048

 

高集積多ピンデバイスの、量産を強力サポート。

 

最大4個の同時テストを行うことができます。
リーズナブルな価格設定により、テスタ本体の増設も容易。

高い耐故障性と明快なユーザインタフェースで、効率的な量産をお手伝いします。

【特徴】
･最大2048ピン（PMU最大128個）
･最大60Aの大電流電源（HCDPS）を搭載可能
･最大4DUT同時測定
･JTAG等による設定/情報読み出しに対応するファンクション機能（最大144ピン）を用意

 

 

 

 

2）V8000

  

テストレート20MHzの、新しい地平へ。

 

20MHz帯の高付加価値LSI開発を、フレキシブルに支援します。
お客様の新しいアイディアから、市場までの距離を短縮します。

【特徴】
･20MHzのテストレート
･最大256ピンI/O
･最大8DUT同時測定。さらにSPMU搭載でテスト時間短縮に貢献
･V800、V777、V7100との上位互換性

 

 

 

 

≪技術情報≫

 

VLSI Research社の顧客満足度調査ベスト10に選ばれました。

 

 

テストラムの半導体テスタ製品は、
VLSI Research社の顧客満足度調査で、ベスト10に選ばれました。

私どもの製品を購入してくださるお客様の選択の要因は、しばしば価格です。
しかし「ベスト10」に選ばれた時、評価いただいた内容は「quality」だったのです。

私どもは、安価な装置をご提供するに当たって、テスト品質・製造品質に妥協することはしません。
「メンテナンスや機能追加で大きな出費を強いられる」といったこともありません。

時々刻々と変わるお客様のニーズに寄り添い、業務の一環として導入後のフォローアップを行うのが、
私どもの取り組みの「あたりまえ」と考えています。