対応試験の紹介
1、個別半導体の電気的特性
ダイオード、トランジスタおよびIGBTなどパワーモジュールなどがあります。
■ダイオード
[特性項目]順方向電流電圧/逆方向電圧電流
[測定装置]
半導体パラメータアナライザ・カーブトレーサ
■トランジスタ
[特性項目]コレクタエミッタ間飽和電圧/直流電流増幅率
[測定装置]
リニアICテスター/半導体パラメータアナライザ・カーブトレーサ
2、受動部品の電気的特性
抵抗器、コンデンサ、インダクタの他、スイッチ、コネクタなどの接触部品などがあります。
■抵抗器
[特性項目]抵抗値/絶縁抵抗(外被-端子間)
[測定装置]
LCRメータ/絶縁抵抗計
■コンデンサ
電解コンデンサ、セラミックコンデンサなどがあります。
[特性項目]静電容量・周波数特性/絶縁抵抗(端子間)または漏れ電流
[測定装置]
LCRメータ/絶縁抵抗計・微小電流計
■インダクタ
[特性項目]インダクタンス/直流抵抗/周波数特性(共振周波数)
[測定装置]
LCRメータ/抵抗計/インピーダンスアナライザ
対象材料・部品・装置
- 電気・電子材料
- 電子デバイス
試験方法
電気的な特性を調べる
試験所所在地
- 東京都練馬区
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