岩手県にある 株式会社ミズサワセミコンダクタの会社情報です。
事業概要 、製品・技術・サービス 、設備紹介 などを掲載しています。

株式会社ミズサワセミコンダクタの事業概要

■EMS(設計・製造受託サービス)：めっき・半導体組み立て・電子機器組み立て及び基板実装・CMOSセンサ・信頼性評価及び故障解析・三次元造形・他
■製造品目：ASIC・マイコン・カメラモジュール・各種モジュール・他
■製造分野：ウェーハ研削・ダイシング・ダイアタッチ・ボンディング・フリップチップ実装・COB・モールド・めっき・プレス・SMT・テスト・信頼性評価・他

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株式会社ミズサワセミコンダクタの製品・技術・サービス

一般的なODM / OEMスタイルの製造工場は、信頼性評価を外注化するケースが多い為、時間ロスを余儀なくされます。
弊社は自社工場内に信頼性評価の環境を構築し、試作開発・量産品のプロセス変更時における、品質評価のリードタイム短縮を可能としました。

また、同時に解析環境も整える事で、故障モード発生時は解析と分析を行い、その結果を迅速に製品へフィードバックする事により、製品開発への改善にご活用いただけます。

  • アセンブリーに関係なく、信頼性評価のみでお取引可能です
  • 各種試験及び評価解析の結果につきましては、
    報告書（￥10,000/1案件費用追加）を作成いたします
  • 機器・設備貸出もご利用いただけます
    ※項目によっては弊社への委託対応のみとなります
  • 基本作業見積に記載の価格は弊社への委託試験の金額となります
    ※機器・設備貸し出しの場合は表示価格より人件費をお値引きいたします

信頼性評価

  • 信頼性評価
    • スクリーニング試験
    • エージング試験
    • 環境ストレス
      • 低温放置試験
      • 低温試験
      • 低温保存試験
      • 低温動作試験
      • 高温放置試験
      • 高温試験
      • 高温保存試験
      • 高温動作試験
      • 高温高湿放置試験
      • 高温高湿試験
      • 高温高湿保存試験
      • 温度サイクル試験
      • ヒートサイクル試験
      • 定速温度変化試験
      • 温湿度サイクル試験
      • 熱衝撃試験
      • ヒートショック試験
      • 冷熱衝撃試験
      • 恒温恒湿試験
      • プレッシャークッカー試験
      • 温湿度試験
      • 結露サイクル試験
    • 電気的
      • HAST試験
      • 不飽和加圧水蒸気試験
      • 不飽和プレッシャークッカバイアス試験
      • 高度加速寿命試験
      • 高加速度試験
  • 故障解析

外部試験機関との連携

公的機関をはじめ民間企業・外部試験機関と連携を行い低価格・スピード・品質をもった信頼性評価・解析を提供します。

外部試験機関連携・自社対応実績

信頼性評価

冷熱衝撃試験
冷熱衝撃試験機1
装置仕様 高温槽温度範囲：50⇔350℃
低温槽温度範囲：-70⇔0℃
基本作業見積 \8,700～/1案件（1時間～）
冷熱衝撃試験機2
装置仕様 高温槽温度範囲：60⇔200℃
低温槽温度範囲：-70⇔0℃
基本作業見積 \8,700～/1案件（1時間～）
恒温器
恒温器
装置仕様 温度範囲：(外囲温度+20)℃⇔+200℃
※通電（バイアス）複合試験可
基本作業見積 \8,200～/1案件（1時間～）
高度加速寿命試験装置 ハストチャンバー
高度加速寿命試験装置 ハストチャンバー
装置仕様 温度範囲：+105.0⇔142.9℃
湿度範囲：75⇔98%
圧力範囲：0.020⇔0.198MPa
基本作業見積 \8,500～/1案件（1時間～）

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超低温恒温恒湿器
超低温恒温恒湿器1
装置仕様 温度範囲：-70⇔+100℃
湿度範囲：20⇔98%RH
※通電（バイアス）複合試験可
基本作業見積 \8,500～/1案件（1時間～）
超低温恒温恒湿器2
装置仕様 温度範囲：-70⇔+150℃
湿度範囲：20⇔98%RH
※通電（バイアス）複合試験可
基本作業見積 \8,500～/1案件（1時間～）
超低温恒温器
超低温恒温器
装置仕様 温度範囲：-70⇔+150℃
※通電（バイアス）複合試験可
基本作業見積 \8,300～/1案件（1時間～）

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環境試験設備は24時間連続対応可能により、長時間・長期間での対応、試験条件、費用負担軽減のご要望にお応えします。
JIS規格、ISO/IEC規格、指定試験規格、恒温槽や各種試験機・設備装置の詳細等、気になる点がございましたらお気軽にご相談ください。

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故障解析

SEM（走査電子顕微鏡）


解析イメージ

装置仕様
最大資料サイズ
：φ200mm
倍率
：×5⇔300,000
分解能
：3.0mm　（高真空モード/30kV）
元素分析装置
：EDS内蔵
基本作業見積
\7,600～/1案件（1時間～）
SAT（超音波探傷装置）


解析イメージ

装置仕様
有効ストローク
：308×308×60mm
周波数
：10⇔230MHz（7種）
解像度
：0.5μm

反射像/透過像同時計測
基本作業見積
\8,500～/1案件（1時間～）

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X線検査装置


解析イメージ

装置仕様
管電圧
：20⇔90KV
管電流
：5⇔180μA
拡大率
：約10⇔260倍（モニタ上）
ステージサイズ
：350×300mm
基本作業見積
\5,200～/1案件（1時間～）


解析イメージ

装置仕様
最大管電圧/最大管電流
：90kV/0.25mA（10W制御）
X線検出器
：CMOS FPD
幾何学的最大拡大率
（視野角[mm]）
：約25倍
傾斜機構
：0～50度（視点追従機能有）
テーブルサイズ
：350×400mm
XYストローク
：300×350mm
基本作業見積
\5,200～/1案件（1時間～）


解析イメージ

装置仕様
最大管電圧/最大管電流
：90kV / 0.25mA（10W制御）
X線検出器
：CMOS FPD
幾何学的最大拡大率
（視野角[mm]）
：約30倍
傾斜機構
：0～50度
テーブルサイズ
：320×370mm
XYXストローク
：300×350×200mm
基本作業見積
\5,000～/1案件（1時間～）

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プラスチックモールドオープナ


解析イメージ

装置仕様
使用薬品
：発煙硝酸
開封温度
：50⇔80℃
時間設定
：0⇔59分59秒
開封用途
：プラスチックモールド
基本作業見積
\4,400～/1案件（1時間～）
試料研磨装置


解析イメージ

装置仕様
研磨盤サイズ
：8/10インチ
研磨法
：手動
基本作業見積
\4,300～/1案件（1時間～）

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蛍光X線膜厚計


解析イメージ

装置仕様
測定元素
：原子番号Na（11）～U（92）
※Heパージオプション
試験形状
：液体・粉末・個体
線源
：小型空冷式X線管球
（Rh or Wターゲット）、
管電圧50（可変）kV、
管電流20～1000μA
X線照射向き
：上面垂直照射型
検出器
：Vortex（SDD検出器）
※液化窒素不要
分析領域
：0.2、0.5、1.2、3.0mm
（自動切換え）
試料観察
：高解像度CCDカメラ2系統
フィルタ
：6モード電動切り替え
最大資料サイズ
：250（W）×200（D）×150（H）
サンプルチェンジャ
：連続多点測定機能
基本作業見積
\5,100～/1案件（1時間～）
表面粗さ計


解析イメージ

装置仕様
検出器型式
：PU-DJ2S
先端頂角
：90°
先端曲率半径
：R2μm
測定力
：0.7mN or less
測定範囲
：600μm
基本作業見積
\5,100～/1案件（1時間～）
デジタルマイクロスコープ


解析イメージ

装置仕様

ハイレゾリューションヘッド1/1.7型
1,222万画素 CMOSイメージセンサ

総画素
：4,168（H）×3,062（V）
実効画素
：4,024（H）×3,036（V）

高輝度LED内蔵 ハイダイナミックレンジ

有効倍率
：約10～2,500倍

3D深度合成 画像連結機能搭載
超高精細4K大画面モニタ搭載
各種計測関連機能が充実
基本作業見積
\5,000～/1案件（1時間～）

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拠点情報

岩手県奥州市水沢工業団地二丁目37番地

  1. 信頼性評価だけでなく、EMSも交えたお取引可能です。
    「半導体組み立て」「電子機器組み立て・基板実装」
    「CMOSセンサ組み立て」「めっき」
  2. 各種試験及び評価解析の結果につきましては、
    報告書（\10,000/1案件 費用追加）を作成いたします。
  3. 機器・設備貸出もご利用いただけます。
    項目によっては弊社への委託対応のみとなります
  4. 基本作業見積に記載の価格は弊社への委託試験の金額となります。
    機器・設備貸し出しの場合は表示価格より人件費をお値引きいたします。

対応できる規格

環境ストレス系の試験

  • EIAJ ED-4701/100
  • IEC 60068-2-1
  • IEC 60068-2-14
  • IEC 60068-2-2
  • IEC 60068-2-3
  • IEC 60068-2-30
  • IEC 60068-2-38
  • IEC 60068-2-66
  • IEC 60068-2-78
  • ISO 16750-4
  • JASO D014-4
  • JESD22-A104E
  • JESD22-A119A
  • JIS C5402-11-3
  • JIS C60068-2-1
  • JIS C60068-2-2
  • JIS C60068-2-6
  • JIS C60068-2-14
  • JIS C60068-2-27
  • JIS C60068-2-30
  • JIS C60068-2-38
  • JIS C60068-2-39
  • JIS C60068-2-66
  • JIS C60068-2-67
  • JIS C60068-2-78
  • JIS C60068-3-4
  • JIS C61300-2-19
  • JIS Z2279
  • JIS Z3197
  • JIS Z3284

電気的試験

  • JIS C60068-2-66
  • IEC 60068-2-66
  • JIS C5948
  • IEC 61751
  • ECE R10
  • EN 13309
  • EN 61000-4-2
  • IEC 61000-4-2
  • ISO 10605
  • ISO 13766
  • ISO 16750-2
  • ISO 7637-2
  • ISO 7637-3
  • JASO D001-94 5.7
  • JASO D007
  • JIS C61000-4-2
  • SAE J1113-13
  • SAE J1113-42

各種信頼性評価や、故障モード発生時の解析と分析はお任せください。試作開発・量産化のリードタイム短縮と品質改善にご貢献しますので、お気軽にご相談ください。

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沿革

1948 （有）水沢メッキ工業所設立。各種部品のめっきを業容として操業開始
1973 高耐圧トランジスタの外装めっき製造開始
1988 クリーンルーム棟完成、各種半導体の組立開始
1989 （株）ミズサワセミコンダクタにCI　商号変更 略称：MSC
1994 品質システムISO9002認証取得
1996 半導体検査工程稼働開始、組立・外装・テストの一貫製造ライン構築
2002 環境システムISO14001認証取得
2002 （株）国見メディアデバイス設立　略称：KMD
2003 品質システムISO9001：2000認定取得
2004 6/8インチウェハ研削・ダイシング開始
2005 COB・SMT各種モジュールライン稼働
2006 新工場棟完成
2007 カメラモジュール製造開始
2008 12インチウェハ研削・ダイシング開始
2010 資本金312百万円に増資
2010 東京営業所開設
（〒105-0004 東京都港区新橋四丁目27番1号 セントラルビル8F）
2014 （株）デザイン・ドリブン・イノベーション設立　略称：DDI
2015 3Dプリンタ Projet5500X 導入
2018 創業から70周年を迎える
2019 経済産業省より、地域未来牽引企業に選出

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環境試験設備は24時間連続対応可能により、長時間・長期間での対応、試験条件、費用負担軽減のご要望にお応えします。
JIS規格、ISO/IEC規格、指定試験規格、恒温槽や各種試験機・設備装置の詳細等、気になる点がございましたらお気軽にご相談ください。

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株式会社ミズサワセミコンダクタの得意分野・業種

  • 電子部品・デバイス・電子回路
  • 電気機械器具
  • 設備設計・製造

企業プロフィール

企業名
株式会社ミズサワセミコンダクタ
企業名かな
ミズサワセミコンダクタ
住所
〒023-0002
岩手県奥州市水沢工業団地二丁目37番地
最寄り駅
(新幹線)水沢江刺駅から車で15分・(在来線)水沢駅から車で10分
代表者名
代表取締役　柳田 雅紀
設立年月日
1948年04月01日
資本金
312百万円
ホームページ
株式会社ミズサワセミコンダクタのホームページ
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