月別ページ
-
OKIエンジニアリングで対応可能な試験及びAEC規格について紹介します。■AEC-Q101 個別半導体(ディスクリート)部品を対象 (コンデンサー・トランジスタ・ダイオード等)・ストレス試験前後の電気的特性取得・前処…
-
OKIエンジニアリングで対応可能な試験及びAEC規格について紹介します。■AEC-Q100 半導体集積回路(IC)を対象◆AEC-Q100 TEST GROUP A 環境ストレス試験・前処理 SMD only:Moisture Preconditioning JESD22-A113 J-…
- 1
- サイト内検索
- オフィシャルサイト
- ページカテゴリ一覧
- 新着ページ
-
- 非破壊検査 (2026年02月03日)
- DPA(破壊的物理解析) (2026年02月02日)
- 断面加工・観察 (2026年01月30日)
- FE-EPMA WDX元素マッピング (2026年01月28日)
- 燃焼イオンクロマトグラフ法(C-IC法)によるハロゲン分析 (2026年01月27日)



![足で稼ぐ営業を見直しませんか?[営業支援サービスのご案内] 足で稼ぐ営業を見直しませんか?[営業支援サービスのご案内]](https://www.atengineer.com/pr/oeg/color/images/btn_wps.png)