「デバイス／モジュールの信頼性評価、電気的特性測定・評価」一覧
すべてのページカテゴリ一覧
»
「デバイス／モジュールの信頼性評価、電気的特性測定・評価」に関するページ
-
【サービスを強化】SiCパワー半導体の「AC-BTI試験サービス」
SiCパワー半導体の「AC-BTI試験サービス」を強化 評価範囲の拡大と試験時間の最大75%短縮により、製品開発の効率化を支援 SiCパワー半導体は、従来のシリコン（Si）製パワー半導体と比べて電力損失を抑えられるため… -
SiCパワー半導体のAC-BTI試験（DGS試験／GSS試験）
SiCパワー半導体のAC-BTI試験（DGS試験／GSS試験）JEITA EDR-4713 Amend.1 附則書E、JEDEC JEP195、AQG 324、T/CASAS 045—2024規格対応 SiCパワー半導体固有の劣化モードをテスト Siよりも優れた性質（高耐圧、低損… -
パワー温度サイクル試験 自動車向け電子部品評議会の各種信頼性試験「AEC-Q100」に対応 AEC-Q100は、オートモーティブ集積回路（IC）のための各種信頼性試験の規格です。OKIエンジニアリングでは、車載用半導体向け…
-
NVMe SSDの性能評価NVMe SSDとは、Non-Volatile Memory Express SSDの略で、NVMe通信規格を採用したSSDのことです。NVMeはフラッシュメモリアクセスに最適化された通信規格で、SATA SSDと比較して高速にSSDへライト…
- 1
- サイト内検索
- オフィシャルサイト
- ページカテゴリ一覧
- 新着ページ
-
- 2026 OEGセミナー［11/13 オンライン］のご案内 (2026年10月14日)
- 【サービスを強化】SiCパワー半導体の「AC-BTI試験サービス」 (2026年10月02日)
- SiCパワー半導体のAC-BTI試験（DGS試験／GSS試験） (2026年10月02日)
- 見る場所が違えば測定結果も変わる—その理由とは何でしょうか。 (2026年09月11日)
- 第3回 九州半導体産業展に出展 (2026年09月08日)
