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基板清浄度評価
化学分析
/ 2026年08月31日 /
化学・樹脂 試験・分析・測定
基板清浄度評価IPC-TM-650 2.3に準拠した基板清浄度などの試験サービスを提供します。 プリント基板表面が導電性物質やイオン残渣で汚染されていると、基板配線や素子のリードが腐食したり、絶縁不良やマイグレーシ…
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ぐんま Tech EXPO 2026に出展
イベント
/ 2026年08月28日 /
自動車 試験・分析・測定 家電・AV
ぐんま Tech EXPOに初出展いたします。ぐんま Tech EXPO 2026は、製造業を中心に、地域産業の発展や新たな技術交流を促進する展示会です。開発・設計・品質保証・製造など、ものづくりに関わる幅広い分野の最新技術…
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UL94燃焼性試験
環境試験
/ 2026年08月10日 /
環境 食品・機械 試験・分析・測定
UL94燃焼性試験プラスチック材料の燃え難さグレード判定例 UL94とはプラスチック材料における燃え難さのグレードを判定する規格で世界的に認められています。試験片に規定の炎を接炎し燃焼時間と滴下物の有無により…
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ESD／ラッチアップ（Latch-up）実力・解析試験
ESD／ラッチアップ（Latch-up）実力・解析試験LSIのESD耐量とラッチアップ耐量をデバイス開発段階で実力値まで確認し、故障発生時の解析から確実な改良対策案までをご提供します。ESDやラッチアップ試験は、量産に関…
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ラッチアップ（Latch-up）試験
ラッチアップ（Latch-up）試験 ラッチアップ（Latch-up）試験とは CMOSデバイスは、構造上デバイス内部にバイポーラ型の寄生トランジスタ回路が構成され、それがサイリスタと同じ構成になることから、外来サージ等で…
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マイクロフォーカスX線CT・透過X線解析サービス
解析・観察・分析
/ 2026年08月05日 /
電子・半導体 試験・分析・測定
マイクロフォーカスX線CT・透過X線解析サービス非破壊で電子部品・基板内部を3次元可視化 当社では、マイクロフォーカスX線CT（X線マイクロCT・X線顕微鏡・3次元X線解析）およびマイクロフォーカス透過X線解析サービ…
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鉛フリー実装評価
解析・観察・分析
/ 2026年08月04日 /
環境 電子・半導体 試験・分析・測定
鉛フリー実装評価環境への関心が世界的に高まっている中、RoHSなど電子機器の環境対応により電子部品／電子製品の鉛フリー化への取り組みが、半導体業界および電子機器業界で広まりつつあります。鉛フリーはんだ接合…
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気密封止パッケージ内水分・残留ガス分析（IVA分析）
解析・観察・分析
/ 2026年08月03日 /
電子・半導体 試験・分析・測定
気密封止パッケージ内水分・残留ガス分析（IVA分析） 半導体の信頼性を左右する大きな要因の1つに微量水分の存在があります。OKIエンジニアリングでは、セラミック・メタル・ガラスなどにより封止された中空パッケー…
ぐんま Tech EXPOに初出展いたします。ぐんま Tech EXPO 2026は、製造業を中心に、地域産業の発展や新たな技術交流を促進する展示会です。開発・設計・品質保証・製造など、ものづくりに関わる幅広い分野の最新技術…
