第3回 九州半導体産業展に初出展いたします。九州半導体産業展は、半導体の設計・製造・評価など、半導体産業に関わる幅広い技術やサービスが集まる展示会です。技術交流や新たなビジネス機会の創出を促進する場として注目されています。当社は、本展示会に初めて出展し、SiCパワー半導体固有の劣化モード評価、LSIのウェハテスト・信頼性評価、ESD試験・ラッチアップ試験、シングルイベント(SEE：Single Event Effect)試験向けデキャップソリューションをご紹介いたします。試験・評価を通じて、半導体デバイスの品質向上と開発を支援する当社のサービスをご案内いたします。

SiCパワー半導体の劣化評価、LSIの試験・評価、SEE試験前処理に関する課題やご相談をお持ちの方は、ぜひ当社ブースへお立ち寄りください。

試験・評価を通じて、半導体デバイスの品質向上と開発を支援する当社の取り組みをご紹介いたします。

当社出展内容

■SiCパワー半導体デバイスの劣化評価から、LSIの試験・評価、SEE試験向けソリューションまで

～半導体の品質・信頼性に関する評価のお困りごとはございませんか？～

• SiCパワー半導体固有の劣化モード評価
  
• LSIのウェハテスト／信頼性評価
• ESD試験／ラッチアップ試験
• シングルイベント試験向けデキャップソリューション

本展の入場には、公式サイトでの事前登録が必要となります。
事前登録はこちら（展示会サイト）