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パワー温度サイクル試験

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デバイス／モジュールの信頼性評価、電気的特性測定・評価  / 2026年07月31日 /  自動車 電子・半導体 試験・分析・測定

 パワー温度サイクル試験 

自動車向け電子部品評議会の各種信頼性試験「AEC-Q100」に対応

 

AEC-Q100は、オートモーティブ集積回路（IC）のための各種信頼性試験の規格です。

OKIエンジニアリングでは、車載用半導体向け規格AEC-Qの各種信頼性試験を行っています。

 パワー温度サイクル試験
パワー温度サイクル試験は、デバイスを周期的に動作させながら、想定される最悪温度環境に対する耐性確認する為に実施されます。
パワー温度サイクル試験を実施する為には、急峻な温度変化のなかで、デバイスの電源制御を行う必要があります。
OKIエンジニアリングは、デバイスの動作治具設計開発、試験実施までワンストップで対応可能です。

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

パワー温度サイクル試験概要図

 

 

パワー温度サイクル試験基本構成

 

パワー温度サイクル試験のお問い合わせ

パワー温度サイクル試験について、OKIエンジニアリングまでお気軽にお問い合わせください。

 

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