1.電気、電子計測機器
電気・磁気環境
番号　 名称　　
A01 耐電圧試験システム（高電圧）
A02 雷サージ試験機
A03 高周波ノイズ試験機
A04 妨害波測定装置
A05 高精度妨害波測定装置
A07 耐妨害波測定装置
A08 高圧パルス発生器
A09 高周波振動発生器
A10 耐電圧試験システム（低電圧）
A11 静電気放電試験機
A12 バーストノイズ試験機
A13 伝導イミュニティ試験機
A14 電源電圧変動試験機
A15 電波暗室
A16 電磁耐性評価室

A17 放射電磁界測定システム
A18 放射イミュニティ測定システム

計測機器
B01 静電電圧計
B02 表面電位計
B03 微小直流電圧計
B04 絶縁抵抗計
B05 表面抵抗計
B06 接地抵抗計
B07 直流精密測定システム
B08 マルチロガー
B09 デジタルマルチメータ
B10 デジタルＬＣＲメータ
B11 高周波ＬＣＲメータ
B12 ユニバーサルカウンタ
B13 ひずみ率計
B14 Ｑメータ
B15 位相計
B16 電力電力量計単相用
B17 電力電力量計三相用
B18 記録電力量計
B19 静電気測定器
B20 パルスステージ
B21 ネットワークアナライザ
B22 レーザドップラ振動測定装置
B23 広帯域ネットワークアナライザ
B24 インピーダンスアナライザ

観測
C01 アナログオシロスコープ
C02 デジタルオシロスコープ
C03 高速デジタルオシロスコープ
C06 半導体カーブトレーサ
C07 ロジックアナライザ
C08 回線トレーサ
C09 赤外線ビームファインダ
C10 モーダル解折装置
C11 プロトコルアナライザ

記録装置
D01 データレコーダ
D02 電磁オシログラフ
D03 記録計（多点ペン式）
D04 Ｘ−Ｙレコーダ
D05 高速度カメラ

発生器
E01 ファンクションジェネレータ
E02 発振器
E03 パルス発生装置
E04 標準信号発生器
E05 ＡＣ電圧電流発生器
E06 ＤＣ電圧電流発生器
E07 安定化電源装置　交流用
E08 安定化電源装置　直流用
E09 Ｈｅ−Ｎｅレーザ発振器
E10 任意波形発生器

変換装置
F01 周波数変換器
F02 光電変換器
F03 抵抗減衰器
F04 ダイヤル可変抵抗器

磁気特性測定装置
G01 磁束計
G02 ガウスメータ
G03 磁気特性測定装置



2.機械試験機器
精密測定
J01 三次元測定機
J02 ハンディ表面粗さ計
J03 表面粗さ測定機
J04 輪郭形状測定機
J05 真円度・円筒形状測定機
J06 万能測長機
J07 レーザ外径測定装置
J08 非接触変位計
J09 電子マイクロメータ
J10 オートコリメータ
J11 ブロックゲージ（０級）
J12 超音波厚さ計
J13 うず電流式膜厚測定機
J14 電磁式膜厚測定機
J15 万能投影器
J16 非接触三次元測定機
J17 マスターリングゲージ
J18 マスタープラグゲージ
J19 ダイヤルゲージテスタ
J20 シリンダーゲージテスタ
J21 オプチカルフラット
J22 三針ユニット
J23 蛍光Ｘ線式膜厚測定機
J24 電子線粗さ解析装置
J25 自動エリプソメータ

機械試験
K01 動ひずみ測定機
K02 静ひずみ測定機
K03 ボルト軸力計
K04 小型振動試験機
K05 振動試験機
K06 落下衝撃試験機（正弦半波）
K07 水圧試験用ポンプ
K08 動つりあい試験機
K09 ランダム振動制御器
K10 落下衝撃試験機（のこぎり波）
K11 非接触振動解析システム

材料試験
L01 万能材料試験機
L02 小型万能材料試験機
L03 ねじり試験機
L04 クリープ試験機（高温）
L05 深絞り試験機
L06 エリクセン試験機
L07 疲労試験機（油圧式）
L09 西原式摩耗試験機
L10 テーバー式摩耗試験機
L11 シャルピー衝撃試験機
L12 アイゾット衝撃試験機
L13 ブリネル硬さ試験機
L14 ショア硬さ試験機
L15 ロックウェル硬さ試験機
L16 ビッカース硬さ試験機
L17 マイクロビッカース硬さ試験機
L18 高温炉付ビッカース硬さ試験機
L19 デュロメータ硬さ試験機
L20 バーコル硬さ試験機
L21 磁粉探傷装置
L22 超音波探傷装置
L23 クリープ試験機（常温）
L24 Ｘ線応力測定装置
L25 薄膜測定用微小硬度計
L26 薄膜密着強度測定システム
L27 溶射被膜評価試験機
L28 大越式摩耗試験機
L29 X線テレビ検査システム

微小観察
M01 小型工具顕微鏡
M02 実体顕微鏡
M03 金属顕微鏡
M04 偏光顕微鏡
M05 生物顕微鏡
M06 画像解析装置
M07 走査型電子顕微鏡
M08 大型マクロ写真装置
M09 ビデオマイクロスコープ

試料調整
N01 湿式切断機
N02 精密低速切断機
N03 試料研磨機
N04 湿式ベルト粗研磨機
N05 ポータブル電解研磨装置
N06 試料埋込機
N07 熱風乾燥機
N08 ラッピング装置

環境
O01 サンシャインウェザーメータ
O02 紫外線ウェザーメータ
O03 恒温恒湿槽
O04 ウォーターバス
O05 精密高温槽
O06 塩水・キャス試験機
O07 冷熱衝撃試験機
O08 広領域恒温恒湿槽
O09 インキュベータ

3.物理量測定機器
R01 ヘーズメータ
R02 加速度変換器
R03 トルク変換器
R04 変位変換器
R05 圧力変換器
R06 荷重変換器
R07 回転計
R08 ハンディ温湿度計
R09 放射温度計
R10 熱電対
R11 多点温度記録装置
R12 熱映像計測装置
R13 光スペクトルアナライザ
R14 ストロボスコープ
R15 騒音計
R16 振動レベル計
R17 照度計
R18 上皿電子天秤
R19 熱伝導率計
R20 光パワーメータ
R21 デジタルフォースゲージ
R22 固体比重測定装置
R23 変角光度計
R24 輝度計
R25 三次元運動計測システム

4.化学分析機器
分析
S01 電子式水分計
S02 分光光度計
S04 自記分光光度計
S07 電位差滴定記録装置
S08 電解分析装置
S09 全有機炭素計
S10 ガスクロマトグラフ
S11 液体クロマトグラフ
S12 高速自動旋光計
S16 核磁気共鳴分析装置
S17 分光蛍光光度計
S18 原子吸光分析装置
S19 炭素硫黄同時定量分析装置
S20 アミノ酸分析装置
S21 酸素水素窒素同時定量分析装置
S22 ポータブル濁度計
S25 ＩＣＰ発光分析装置
S26 蛍光Ｘ線分析装置
S27 Ｘ線回折装置
S28 熱分析装置
S29 Ｘ線光電子分光分析装置
S30 顕微フーリエ変換赤外分光光度計
S31 イオンクロマトグラフ
S32 近赤外自動分析装置
S33 ラマン分光システム
S34 蛍光・光増幅測定装置
S35 顕微赤外ＡＴＲ測定装置
S36 熱分析ガスクロマトグラフ質量分析

物性評価
T01 精密アッベ屈折計
T02 ヘリウム比重計
T03 水分活性測定装置
T04 色素メータ
T06 ｐＨメータ
T07 油分濃度計
T08 全自動分極装置
T09 動的粘弾性測定装置
T10 デジタル携帯用光沢計
T11 回転粘度計
T12 テクスチュロメータ
T13 超音波弾性率測定装置
T14 レオメータ
T15 メルトインデクサ
T16 熱変形温度測定機
T17 ガス透過率測定装置
T18 塩分濃度計
T19 ＤＯメータ
T20 比表面積・細孔分布測定装置
T21 微粒子ポリマー加工評価システム
T22 自動接触角測定システム

試料調整
U01 ホモジナイザ
U02 卓上遠心機
U03 高速冷却遠心分離機
U04 電気泳動装置
U05 プラズマリアクタ
U06 凍結真空乾燥装置
U07 高圧滅菌器
U08 ワールブルク検圧装置
U09 電気調理器
U10 粉体混合機
U11 振トウ培養装置
U12 細胞破砕装置
U13 圧縮装置
U14 ガラスビード装置
U15 イオンコーティング装置
U16 真空蒸着装置
U17 臨界点乾燥装置
U18 プラスチック試料調整装置
U19 分析用試料粉砕機
U20 スパイラルシステム
U22 レーザー表面改質装置
U23 スパッタリング装置

5.食品加工機器
W01 真空らい潰機
W02 真空煮練機
W03 卓上真空包装機
W04 プレッシャークッカ

6.工作機器等
X01 超高速昇温電気炉
X02 電気加熱炉
X03 真空熱処理炉
X04 ガス浸炭炉
X05 電気マッフル炉
X06 プラスチック粉砕機
X07 高速切断機
X08 薄板専用プラズマ切断機
X09 万能工具研削盤
X10 ドリル研磨機
X11 ドリルシンニング盤
X12 両頭グラインダ
X13 乾燥機
X14 旋盤
X15 フライス盤
X16 金属用帯のこ盤
X17 ボール盤
X18 ベンチプレス
X19 炭酸ガス溶接機
X20 アルゴンガス溶接機
X21 スポット溶接機
X22 糸のこ盤
X23 バンドソー
X24 自動かんな盤
X25 雰囲気式超高温電気炉
X26 顕微ＦＴ−ＩＲ用加熱炉
X27 オ−トクレ−ブ成形機