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設備紹介

電子線マイクロアナライザー(EPMA)
X線回折装置(XRD)
走査型電子顕微鏡(SEM)
分析走査電子顕微鏡(SEM-EDS)
走査型プローブ顕微鏡(AFM)
雰囲気制御走査型プローブ顕微鏡(WET-SPM)
走査型共焦点レーザー顕微鏡(OLS)
ナノサーチ顕微鏡(SFT)
ガスクロマトグラフ(GC)
ガスクロマトグラフ質量分析装置(GCMS)
液体クロマトグラフ(HPLC)
液体クロマトグラフ質量分析装置(LC-MS)
ヘッドスペースガスクロマトグラフ(HS-GC)
ヘッドスペースガスクロマトグラフ質量分析装置(HS-GCMS)
熱分解ガスクロマトグラフ質量分析装置(PY-GCMS)
赤外分光光度計(FTIR)
赤外顕微鏡(AIM)
ラマン分光分析計
紫外可視近赤外分光光度計(UV-VIS-NIR)
蛍光分光光度計(RF)
全有機炭素系(TOC)
イオンクロマトグラフ(HIC)
原子吸光光度計(AA)
高周波プラズマ発光分析装置(ICP-AES)
高周波プラズマ質量分析装置(ICP-MS)
波長分散型蛍光X線分析装置(XRF)
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示差走査熱量計(DSC)
熱機械分析装置(TMA)
熱重量測定装置(TGA)
示差熱・熱重量同時測定装置(DTG)
万能試験機(UH)
オートグラフ(AG)
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小型卓上試験機(EZGraph-EZTest)
疲労試験機(サーボパルサ)
電磁力式微小材料試験機(マイクロサーボ)
高速衝撃試験機(HITS)
粘性試験機(CFT)
微小圧縮試験機(MCT)
ダイナミック超微小硬度計(DUH)
微小硬度計(HMV)
乾式自動密度計
レーザー回折式粒度分布測定装置(SALD)
自動ポロシメーター
比表面積/細孔分布測定装置
臭い識別装置(FF)
高速度ビデオカメラ(HPV)

参加ポータル
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