【Live配信 or アーカイブ配信】積層セラミックコンデンサの故障メカニズム、解析事例と品質向上

＜セミナー　No.601402＞

積層セラミックコンデンサの

故障メカニズム、解析事例と品質向上

★MLCCで実際に発生する故障事例をもとにその原因と対策手法を解説

　開発・製造する側も使用する側も知っておきたい信頼性確保の考え方を学ぶ

-----------------------------------------------------------------------------------------------

■講師

テック・サイトウ　代表　齋藤 彰 氏 （元 村田製作所）

■聴講料

１名につき５５，０００円（消費税込・資料付き）

１社２名以上同時申込の場合１名につき４９，５００円（税込）

大学、公的機関、医療機関の方には割引制度があります。詳しくはお問い合わせください。

■セミナーの受講について
・下記リンクから視聴環境を確認の上、お申し込みください。
　→ https://zoom.us/test
・開催数日前または配信開始日までに視聴用のURLとパスワードをメールにてご連絡申し上げます。
　セミナー開催日時またはアーカイブ配信開始日に、視聴サイトにログインしていただきご視聴ください。
・出席確認のため、視聴サイトへのログインの際にお名前、ご所属、メールアドレスをご入力ください。
　ご入力いただいた情報は他の受講者には表示されません。
・開催前日または配信開始日までに、製本したセミナー資料をお申込み時にお知らせいただいた住所へお送りいたします。
　お申込みが直前の場合には、開催日または配信開始日までに資料の到着が間に合わないことがあります。
・本講座で使用される資料や配信動画は著作物であり、録音・録画・複写・転載・配布・上映・販売等を禁止いたします。
・本講座はお申し込みいただいた方のみ受講いただけます。
　複数端末から同時に視聴することや複数人での視聴は禁止いたします。
・アーカイブ配信セミナーの視聴期間は延長しませんので、視聴期間内にご視聴ください。

プログラムああああああああああああああああああああああああああああああああああああ

【本講座で学べること】

・積層セラミックコンデンサ（MLCC）の故障に関する全体的な知識

・クラックによる故障のメカニズムとその評価方法

・高温・高電界による絶縁劣化メカニズムとその評価方法

・腐食による故障現象

・寿命予測技術

【講座概要】

小型化や薄層化が進む積層セラミックコンデンサ（MLCC）において、信頼性を確保するために製造する側も使用する側もより高い技術が必要になっています。本セミナーでは、株式会社村田製作所で故障解析の第一人者を24年間務めた筆者が、MLCCの開発・製造・実装・市場故障のどれかに関係する方が活用できるように、包括的にまとめました。様々な故障現象のメカニズムを解析手法とともに示します。特に小型化や薄層化によって重要となる高温・高電界による絶縁劣化やその評価方法は、お役に立つと思います。

１．はじめに（品質の重要性）

　1.1 品質事故事例

　1.2 品質偏重の時代へ

　1.3 故障原因を物理化学の世界へ

２．積層セラミックコンデンサ（MLCC）の特徴

　2.1 BaTiO3の誘電率発現のメカニズム

　2.2 MLCCの誘電率の温度変化、電圧依存性と経時変化

３．MLCCに発生するクラックの検出・評価方法

　3.1 クラックが発生するメカニズム（強度と応力）

　3.2 MLCCに発生する様々なクラック一覧

　3.3 たわみクラック

　3.4 水平クラック

　3.5 マウントクラック（実装時のクラック）

　3.6 はんだクラック（温度サイクルによるクラック）

　3.7 クラックの評価方法

４．BaTiO3系MLCCの絶縁劣化による故障

　4.1 絶縁低下の主要因いろいろ

　4.2 酸素空孔による絶縁劣化のメカニズム

　4.3 劣化速度の温度依存性＆電界強度依存性

　4.4 絶縁劣化個所の故障解析技術

５．腐食による故障

　5.1 めっき腐食

　5.2 はんだフラックス腐食

　5.3 水分浸入による電解腐食

　5.4 ECMとSnウィスカ

６．寿命予測技術

　6.1 ワイブルプロット

　6.2 ハザート分析

　6.3 季節変動に強い三角分析

７．MLCCの小型化に伴う注意点と対策案

セミナーの詳細についてはお気軽にお問い合わせください。

２名以上同時にお申込される場合、２人目以降の方の情報は【弊社への連絡事項がございましたら、こちらにお書きください】欄にご入力をお願いいたします。