【新製品】500Vで試験可能なマイグレーションテスター、ECM-500シリーズが新登場

マイグレーションテスターに新しいシリーズが登場しました。

最大500Vの印加電圧でマイグレーション試験が行え、カーエレクトロニクス関連の電子材料、プリント基板の絶縁信頼性評価に最適です。

J-RASテスターの特徴である自社による専用設計により、小型軽量、優れた操作性、トラブルフリーを実現しています。

・1V～500Vのワイド電圧印加レンジ

・50m秒／CHの高速スキャン処理

・CH毎に異なる電圧出力可能

・100n秒の瞬時リーク電流検出機能

・トライアキシャル＆アクティブガードケーブルでノイズレス計測

・小型ボディに最大100CH搭載

・専用ソフトウェアは最新Windows10対応で簡単操作

■高抵抗計測能力（10TΩ計測データ）

計測サンプル：抵抗器（公称値10TΩ）

試験環境：常温常湿

印加電圧：100V

計測時間：1時間15分（収録間隔1分）

電流レンジ：オート

抵抗器10TΩをシールドボックス内（常温常湿）に配置し、長さ2.5mの標準計測ケーブルを用いて測定したデータです。印加電圧＝100V、抵抗値＝10TΩより、計測電流はわずか10pA相当ですが、ECM-500の専用設計回路はノイズを効果的に減衰し信号成分を確実に抽出、安定した計測を実現します。

■瞬時リーク電流検出機能と抵抗値計測

計測サンプル：くし形パターン

試験環境：85℃、85％

印加電圧：50V

収録間隔：1分

電流レンジ：オート

くし形パターン基板の抵抗値を計測したデータです。瞬時リーク電流検出機能をONにして計測しました。下のグラフは試験スタートから30時間までのグラフデータです。

前半部分の▲マークは、CH個別搭載の瞬時リーク電流検出機能による計測データです。約25時間経過時点の絶縁劣化データは通常のスキャン処理による計測結果です。

ECM-500では、リーク検出機能は特別なモードではなく、通常の抵抗値計測を実行しながら使用でき、しかも抵抗値データとして同一グラフ上に表示できます。

下のグラフは瞬時リーク検出部の拡大表示です。ハードウェアの高速検出回路により、CHスキャンの間に発生した瞬間的な絶縁劣化をとらえました。（太いラインは電圧データ）

下のグラフは約25時間経過時点に発生した絶縁劣化部分を拡大したものです。

およそ30秒にわたり絶縁抵抗値が低下し、その後復帰しています。

サンプルの焼損を避ける電流リミット回路（約700uA）の働きにより、電圧（太いライン）も低下しています。

このように、ECM-500は通常通りの絶縁劣化データ計測を行いながら、瞬時リーク検出機能を併用し、リークタッチ現象も計測することができます。