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【新製品】計測スピード業界最速の50m秒/ch。導通信頼性テスター RTm-100シリーズ

製品・技術

  • 【新製品】500Vで試験可能なマイグレーションテスター、ECM-500シリーズが新登場

    絶縁抵抗測定器  / 2016年10月20日 /  化学・樹脂 電子・半導体 試験・分析・測定

    マイグレーションテスターに新しいシリーズが登場しました。

    最大500Vの印加電圧でマイグレーション試験が行え、カーエレクトロニクス関連の電子材料、プリント基板の絶縁信頼性評価に最適です。

    J-RASテスターの特徴である自社による専用設計により、小型軽量、優れた操作性、トラブルフリーを実現しています。

     

    1V500Vのワイド電圧印加レンジ

    50m秒/CHの高速スキャン処理

    CH毎に異なる電圧出力可能

    100n秒の瞬時リーク電流検出機能

    ・トライアキシャル&アクティブガードケーブルでノイズレス計測

    ・小型ボディに最大100CH搭載

    ・専用ソフトウェアは最新Windows10対応で簡単操作

     

    ■高抵抗計測能力(10TΩ計測データ)

    計測サンプル:抵抗器(公称値10TΩ)

    試験環境:常温常湿

    印加電圧:100V

    計測時間:1時間15分(収録間隔1分)

    電流レンジ:オート

     

    抵抗器10TΩをシールドボックス内(常温常湿)に配置し、長さ2.5mの標準計測ケーブルを用いて測定したデータです。印加電圧=100V、抵抗値=10TΩより、計測電流はわずか10pA相当ですが、ECM-500の専用設計回路はノイズを効果的に減衰し信号成分を確実に抽出、安定した計測を実現します。

     

     

     

    ■瞬時リーク電流検出機能と抵抗値計測

    計測サンプル:くし形パターン

    試験環境:85℃、85

    印加電圧:50V

    収録間隔:1

    電流レンジ:オート

      

    くし形パターン基板の抵抗値を計測したデータです。瞬時リーク電流検出機能をONにして計測しました。下のグラフは試験スタートから30時間までのグラフデータです。

    前半部分の▲マークは、CH個別搭載の瞬時リーク電流検出機能による計測データです。約25時間経過時点の絶縁劣化データは通常のスキャン処理による計測結果です。

    ECM-500では、リーク検出機能は特別なモードではなく、通常の抵抗値計測を実行しながら使用でき、しかも抵抗値データとして同一グラフ上に表示できます。

     

    下のグラフは瞬時リーク検出部の拡大表示です。ハードウェアの高速検出回路により、CHスキャンの間に発生した瞬間的な絶縁劣化をとらえました。(太いラインは電圧データ)

     

    下のグラフは約25時間経過時点に発生した絶縁劣化部分を拡大したものです。

    およそ30秒にわたり絶縁抵抗値が低下し、その後復帰しています。

    サンプルの焼損を避ける電流リミット回路(約700uA)の働きにより、電圧(太いライン)も低下しています。

     

    このように、ECM-500は通常通りの絶縁劣化データ計測を行いながら、瞬時リーク検出機能を併用し、リークタッチ現象も計測することができます。

     

     

  • 【新開発】高性能導通信頼性テスター、RTm-100シリーズが新登場!

    導通信頼性テスター  / 2014年04月22日 /  電子・半導体 試験・分析・測定 EMS

    ミリΩレベルの抵抗値をより速く、より正確に計測。

    プリント基板のパターン、はんだ接合部などの導通信頼性試験に最適!

     

     

     

     本システムは多チャンネル導通信頼性評価装置で、主にヒートショック試験槽内に設置された試験サンプルの抵抗値をモニタリングするものです。

     高温環境、低温環境の環境変化(試験サイクル)に同期して抵抗値が自動的に計測され、専用ソフトウェアにてグラフデータやテキストデータで表示されます。また、あらかじめ設定されたNG判定値(絶対値、または変動率)を検出することにより、サンプルの導通信頼性評価を行います。

     オプション機能で温度データも記録する事が出来ます。

     本システムはサイクル連動計測の他、設定された時間間隔で定期的に抵抗値を計測する機能も備えており、幅広い用途にお使いいただけます。

     

     

    50m秒/CHの高速スキャン

     サイクル時間の短いヒートショック試験にも余裕を持って計測を実行します。

    高精度データ計測

     専用設計の計測回路は機械式リレーが無く熱起電力により計測データのシフトを低減。

    高性能計測回路

     サンプルに印加される電流データ、電圧データを個別ロックインアンプで同時計測し、真の微小抵抗値の計測が可能。

    ノイズを徹底的に排除

     ツイストペアケーブル採用で計測ケーブルに伝搬するノイズを効果的に低減。

    AC/DC計測機能を標準搭載

     印加電流はAC、DCを試験単位で切り替えて出力し計測できます。試験の要求に応じて使い分ける事が出来ます。

    小型軽量

     筺体タイプは、96CH、240CHの2種類をラインナップ。持ち運び自由自在で試験槽横のせまいスペースで直ぐに試験が実行可能。

     

     

    本システムは、標準ケーブル3.5m先端においても微小抵抗をノイズの影響を抑え、高精度で安定して計測することができます。以下に実測データを掲載します。

     

     

       (クリックで拡大表示)

     

    ■計測条件など

     ・計測サンプル 5mΩ(チップ抵抗)

     ・試験環境 常温、常湿

     ・印加電流 AC電流(オートレンジ)

     ・データ収録 定期収録(1分間隔)

     ・標準ケーブル 3.5m先端にて

    製品概要 多チャンネル導通信頼性試験装置
    特徴 高速スキャン、高精度計測
    製品名・型番等
    シリーズ名
    RTm-100シリーズ
  • 【高電圧】絶縁信頼性テスターに「静電容量計測オプション」機能が登場!

    絶縁抵抗測定器(高電圧)  / 2013年10月31日 /  化学・樹脂 電子・半導体 試験・分析・測定

    高電圧絶縁信頼性テスター HVUαシリーズに便利なオプション機能が登場!

     

    1台2役  静電容量データの計測も可能に。

    高耐圧コンデンサの信頼性評価試験に最適!

     

     

    ・絶縁信頼性データと静電容量計測が1台でOK

       ハードもソフトも1台だから導入、オペレーション、データ整理など、全てが簡単です。
    ・計測モードの切り替え操作や計測ケーブルの繋ぎ替え不要
     作業時間の短縮や作業ミスの低減に効果的です。

    ・完全自動制御の槽内連続モニタリングを実現
     より信頼性の高いデータを取得する事ができます。

    ・専用ソフトウェアで簡単操作&データ表示
     2種類のデータ比較や編集も簡単で、結果をよりわかりやすく表示する事が可能です。

     

     

     本オプション機能により、絶縁信頼性データ(R、I)と、静電容量データ(F)が、1台で計測できます。(絶縁抵抗データを常時モニタリングし、定期的に静電容量データを計測)

    しかも、恒温槽からのサンプルの取り出しや、計測ケーブルの付け替え作業は一切不要で、全ての計測は自動的に行われます。

     本オプション機能は、特に高耐圧コンデンサの信頼性評価試験に最適な機能として提案するものです。もちろん、絶縁信頼性データ(R,I)のみの試験の実行も可能です。

     計測データは専用ソフトウェアがインストールされたパソコン画面で、計測パラメータ毎にテキストおよびグラフで表示されます。また、CSVファイル出力機能も備え、表計算ソフトなどでの編集も可能です。

    HVUα構成

    (HVUαシリーズ)

     

    5個のフィルムコンデンサの信頼性試験データの実例を示します。

     

    ○主な試験条件

     印加電圧:450V

     試験環境:85℃、85%

     

    ○静電容量データ・・・いずれのコンデンサも静電容量は劣化

       

    ○絶縁抵抗値データ・・・絶縁抵抗値は横ばい

             

    3000Vを超える印加電圧のカスタマイズなども承ります。
    ■製品に関するお問合せや、カスタマイズのご相談などお気軽にお問合せください。

    製品概要 高電圧絶縁信頼性試験装置
    静電容量計測にも対応
    特徴 最大4000Vの高電圧印加により絶縁信頼性試験が可能。
    各CH個別電源搭載で、個別電圧を設定しての試験が可能。
    オプション機能で静電容量計測も実現。
    最小5CH~最大50CHまで、5CH単位でニーズに合わせて構成。
    製品名・型番等
    シリーズ名
    HVUα
  • 高電圧絶縁信頼性試験装置 HVUαシリーズ 実測データのご紹介

    絶縁抵抗測定器(高電圧)  / 2013年02月21日 /  化学・樹脂 電子・半導体 試験・分析・測定

    高電圧絶縁信頼性試験装置 HVUαシリーズ 実測データのご紹介

     

    ■高電圧絶縁計測+100n秒以下の高速イベント収録

    • ⾼電圧デバイスの絶縁信頼性評価
    • パワーモジュールの連続耐圧評価
    • プリント基板の耐マイグレーション性能評価
    • その他⾼電圧部品の絶縁信頼性評価

     

    ■高速イベント検出機能

     HVUαには計測電流の急速な変化(100n秒以下)を捉える高速イベント検出機能をチャンネル個別に搭載しました。この機能は、従来の多チャンネル高電圧テスターでは検出が困難であった抵抗値の急激な変化や部分放電等による電流変化の記録を可能にします。

     高速イベントが検出されると△マークで電圧データグラフ上に表示され、抵抗値・電流値データとの比較も容易です。

     

     従来のテスターは計測スピードが遅く、更に設定されたNG判定抵抗値を下回らない限り、定期的な時間間隔のデータしか残せませんでしたが、HVUαはこの新しい計測機能により、高抵抗の領域においても効果的にデータを記録し、サンプルの信頼性を判断するための要素をより多く提案します。

     

     

    ■実測データ

    3つの実測データを掲載します。

     

    実測データ① 高速イベント検出あり

    試験開始直後に3回の高速イベントが検出されました。その後、12時間程度経過したのち、絶縁抵抗が徐々に低下しています。

     

      ←クリックで拡大します

     

    実測データ② 高速イベント検出あり

    試験開始直後から多数の高速イベントが検出されました。絶縁抵抗値は全体的に不安定です。

    ← クリックで拡大します

     

    実測データ③ 高速イベント検出なし

    高速イベントの検出は無く、絶縁抵抗値は安定しています。

    ←クリックで拡大します

     

    ■主な機能・仕様

    ・4000Vの高電圧印加が可能

    ・高速イベント検出機能搭載

    ・チャンネル個別印加電圧設定

    ・最大200CHまで1台のPCで制御可能

  • エレクトロケミカルマイグレーションテスター ECM-100 計測データ<実測>

    絶縁抵抗測定器  / 2011年07月05日 /  化学・樹脂 電子・半導体 試験・分析・測定

    ECM-100で実際にエンドユーザー様にて計測されたデータをご紹介します。

    左の資料は、HASTと組み合わせたデータです。

    <試験条件>

     ・槽内環境:130℃、85%

     ・印加電圧:3.3V

     

     

     

    HASTとの組み合わせの場合は、HASTの槽内にテスター付属の計測ケーブルを直接入れられず、中継やケーブル延長があるため、ノイズの影響を受けやすくなります。

    特に、サンプルが高抵抗であり、かつ印加電圧が低い場合に影響が大きくなります。

     

    ECM-100シリーズは、このような条件であってもノイズを効果的に除去します。

    また、独自のハイサイド計測方式による極めて安定した電圧印加回路と正確な電圧モニタリング、高精度な電流計測回路により、僅かな抵抗値の差も正確かつ安定的に計測します。

     

    掲載しました実測データでは実際に次の事が確認できます。

    ■L/S=15μm、18μmの2種類のサンプルの抵抗値の違いが表現される

    ■10乗程度の高抵抗であるがノイズやデータの乱れが皆無である

     ⇒3.3Vの印加電圧は安定している

     ⇒電流計測回路は微弱電流を安定して計測している

     ⇒各CH独立設計によりCH間の影響が全く発生しない

      今までのテスターでは計測が難しい条件下でも、信頼性試験結果として十分にご活用できる計測データを取得します。

     

    ECM-100シリーズについての詳細につきまして、弊社サイトの製品ページ(下記の関連リンク)を是非ご覧ください。

  • 新製品 高電圧絶縁信頼性試験装置 HVUsシリーズ

    絶縁抵抗測定器(高電圧)  / 2010年09月24日 /  化学・樹脂 電子・半導体 試験・分析・測定

     

     NEW  高電圧絶縁信頼性試験装置

    HVUsシリーズ                  

     「最大3000Vの高電圧印加電圧にて絶縁劣化を連続計測・収録します」

    HVUsシリーズはPCとの連動により自動データ計測及び収録を行う高電圧信頼性評価装置です。高電圧電子デバイスやケーブル等の絶縁評価にご活用頂けます。



    安定した印加電圧
     最大3000Vの高電圧出力回路とフィードバック制御をチャンネル毎に搭載しました。高電圧でも妥協しない設計で、他チャンネルに影響されず常に設定電圧を維持する安定した電圧印加を実現しました。

    高速短絡検出
      サンプルの短絡検出回路もチャンネル個別搭載です。ミリ秒単位の短絡にも追従しイベントとして記録出来ます。短絡検出と同時に印加電圧もOFFにるので高電圧の漏電防止する安全機能としての役割も果たします。

    ノイズに強い
     電流計測ケーブルはトライアキシャル構造のアクティブガードです。ノイズを排除し微細な電流信号を確実に計測します。電圧印加側ケーブルはシールドタイプで被服が剥けても高電圧が露出しません。

    多チャンネル
     筺体サイズは 450(W)×500(H)×275(D)と小型ながら最大50チャンネル搭載可能です。筺体には外部接点入力も装備されておりエリアセンサーやチャンバー扉に連動させた緊急停止制御も容易です。 

    特長

      :CH個別電源搭載で各サンプルに安定した電圧印加

      :機械式リレーによるスキャン動作が無いので連続試験中の故障やトラブル無し

      :短絡検出回路のCH個別搭載で瞬間的なサンプル短絡にも追従

      :専用ソフトウェア搭載のPCとの接続によりグラフ表示やデータ収録可能

      :5チャンネル単位でご要望に応じたシステム構成可能

      :価格を抑えたスタンドアローンモデルもラインナップ

       *3000Vを超える印加電圧のカスタマイズも承ります(別途お問い合わせ)

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