「絶縁抵抗測定器」一覧
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【新製品】500Vで試験可能なマイグレーションテスター、ECM-500シリーズが新登場
マイグレーションテスターに新しいシリーズが登場しました。
最大500Vの印加電圧でマイグレーション試験が行え、カーエレクトロニクス関連の電子材料、プリント基板の絶縁信頼性評価に最適です。
J-RASテスターの特徴である自社による専用設計により、小型軽量、優れた操作性、トラブルフリーを実現しています。
・1V~500Vのワイド電圧印加レンジ
・50m秒/CHの高速スキャン処理
・CH毎に異なる電圧出力可能
・100n秒の瞬時リーク電流検出機能
・トライアキシャル&アクティブガードケーブルでノイズレス計測
・小型ボディに最大100CH搭載
・専用ソフトウェアは最新Windows10対応で簡単操作
■高抵抗計測能力(10TΩ計測データ)
計測サンプル:抵抗器(公称値10TΩ)
試験環境:常温常湿
印加電圧:100V
計測時間:1時間15分(収録間隔1分)
電流レンジ:オート
抵抗器10TΩをシールドボックス内(常温常湿)に配置し、長さ2.5mの標準計測ケーブルを用いて測定したデータです。印加電圧=100V、抵抗値=10TΩより、計測電流はわずか10pA相当ですが、ECM-500の専用設計回路はノイズを効果的に減衰し信号成分を確実に抽出、安定した計測を実現します。
■瞬時リーク電流検出機能と抵抗値計測
計測サンプル:くし形パターン
試験環境:85℃、85%
印加電圧:50V
収録間隔:1分
電流レンジ:オート
くし形パターン基板の抵抗値を計測したデータです。瞬時リーク電流検出機能をONにして計測しました。下のグラフは試験スタートから30時間までのグラフデータです。
前半部分の▲マークは、CH個別搭載の瞬時リーク電流検出機能による計測データです。約25時間経過時点の絶縁劣化データは通常のスキャン処理による計測結果です。
ECM-500では、リーク検出機能は特別なモードではなく、通常の抵抗値計測を実行しながら使用でき、しかも抵抗値データとして同一グラフ上に表示できます。
下のグラフは瞬時リーク検出部の拡大表示です。ハードウェアの高速検出回路により、CHスキャンの間に発生した瞬間的な絶縁劣化をとらえました。(太いラインは電圧データ)
下のグラフは約25時間経過時点に発生した絶縁劣化部分を拡大したものです。
およそ30秒にわたり絶縁抵抗値が低下し、その後復帰しています。
サンプルの焼損を避ける電流リミット回路(約700uA)の働きにより、電圧(太いライン)も低下しています。
このように、ECM-500は通常通りの絶縁劣化データ計測を行いながら、瞬時リーク検出機能を併用し、リークタッチ現象も計測することができます。
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エレクトロケミカルマイグレーションテスター ECM-100 計測データ<実測>
ECM-100で実際にエンドユーザー様にて計測されたデータをご紹介します。
左の資料は、HASTと組み合わせたデータです。
<試験条件>
・槽内環境:130℃、85%
・印加電圧:3.3V
HASTとの組み合わせの場合は、HASTの槽内にテスター付属の計測ケーブルを直接入れられず、中継やケーブル延長があるため、ノイズの影響を受けやすくなります。
特に、サンプルが高抵抗であり、かつ印加電圧が低い場合に影響が大きくなります。
ECM-100シリーズは、このような条件であってもノイズを効果的に除去します。
また、独自のハイサイド計測方式による極めて安定した電圧印加回路と正確な電圧モニタリング、高精度な電流計測回路により、僅かな抵抗値の差も正確かつ安定的に計測します。
掲載しました実測データでは実際に次の事が確認できます。
■L/S=15μm、18μmの2種類のサンプルの抵抗値の違いが表現される
■10乗程度の高抵抗であるがノイズやデータの乱れが皆無である
⇒3.3Vの印加電圧は安定している
⇒電流計測回路は微弱電流を安定して計測している
⇒各CH独立設計によりCH間の影響が全く発生しない
今までのテスターでは計測が難しい条件下でも、信頼性試験結果として十分にご活用できる計測データを取得します。
ECM-100シリーズについての詳細につきまして、弊社サイトの製品ページ(下記の関連リンク)を是非ご覧ください。
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NEW エレクトロケミカルマイグレーションテスター
ECM-Light
「マイグレーションテスターは高価で導入していないが自作テスターでの試験には問題がある」とお悩みではありませんか?
J-RASの”ECM-Light”はこのようなお客様のご要望を満たすため、機能を簡素化して価格を抑えた新コンセプトのテスターです。
自作テスターに比べて試験の信頼性を大幅に向上し工数削減にも大きく貢献します。
高機能なテスターを必要としない簡易的な試験の需要が多い場合にも最適なテスターです。
連続モニタリングシステム
ECM-Lightは恒温恒湿槽からサンプルを取り出さずに絶縁抵抗値を計測できる槽内連続モニタリング装置なので一時的な絶縁抵抗劣化も検出します。また、サンプルを取り出さないので余計な環境ストレスを与えることもなく再現性の高い試験結果を期待できます。
もちろん、サンプルを一定時間おきに取り出して抵抗計測して槽内に戻す作業の繰り返しも不要で工数削減にもなります。
チャンネル個別電源搭載
”ECM-Light”は各チャンネル個別の電源回路からサンプルに電圧を印加するので、1つのサンプルの短絡が別のサンプルの印加電圧を低下させることがありません。更に電圧フィードバック制御も各チャンネルで独立です。このため試験終了まで安定したストレス電圧印加が可能です。
自作テスターでは1つの電源を複数サンプルで共有するため、あるサンプルの短絡により他のサンプルへの印加電圧も低下する恐れがあり試験結果が不安定になりがちです。
メーカー製テスターならではの便利機能
任意のNG判定レベルを設定できます。NGと判定されたサンプルへの印加電圧を自動的にOFFに出来ます。
グループ単位(10CH単位)で任意のNG判定レベルを設定できます。NGと判定されたチャンネルのランプが点灯するので試験状況が一目でわかります。
オプション機能でリーク電流の変化をデータレコーダーに記録することも可能です。主な仕様
●チャンネル数:10~50CH(10CH単位で増設)
●印加電圧:1~100V(無段階設定)
●表示機能:印加電圧、計測電流(4桁デジタル表示)
●信号出力:リーク電流レベル出力 (電圧信号)
●接点出力:短絡検出信号(CH別オープンコレクタ)
本製品はNG判定値、電流レンジ等カスタマイズ可能な受注生産品です。
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