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• 100n秒以下での絶縁劣化を検出可能な高電圧テスターが登場

  絶縁抵抗測定器（高電圧）  / 2012年09月11日 /  化学・樹脂 電子・半導体 試験・分析・測定

  高電圧絶縁信頼性試験装置、HVUαシリーズが新登場！

   

  ◆100n秒以下の電流変化を検出可能

  ◆チャンネル個別印加電圧制御

  ◆USB接続で最大200CHを１台のパソコンで制御

   

  ◆100n秒以下の電流変化を検出可能

  部分放電による瞬間的な電流変化もチャンネル個別搭載の高速検出回路が捉えます。

  今まで判らなかった絶縁劣化前段階でのサンプルの変化が新たに表示されます。

  御社での高電圧デバイス等の試験データに更なる付加価値を提供します。

   

   ◆チャンネル個別印加電圧制御

  チャンネル個別電源搭載の本機の電圧印加機能は更に進化し、チャンネル毎に異なる電圧を設定可能になります。

  標準で50V～4000Vの間でチャンネル個別の電圧設定が可能、様々な電圧での評価が一度に実行できるので試験効率も大幅にアップ。

  もちろん、電圧制御もチャンネル個別で正確な電圧印加を行います。

   

   ◆USB接続で最大200CHを１台のパソコンで制御

  1台のPCで最大4UNIT・合計200CHの計測を実現します。

  本体は小型軽量のためもう設置場所に悩む必要もありません。

   

  その他、デジタル入出力端子も標準装備です。

  外部からの接点入力による試験中断、試験中の警告灯の制御なども配線するだけの手軽さです。

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