「導通信頼性テスター」一覧

RTm-100なら微小抵抗のわずかな変化を高精度に計測し、安定した計測回路で確実な導通信頼性データを提供します。

以下に、計測データを用いて解説します。

今回は、気槽ヒートショックチャンバーにて、チップ抵抗の抵抗値変動を連続的に計測した結果を紹介します。

【試験条件】

　サイクル数：10

　温度条件：　+125℃（10分）-40℃（10分）（温度移行時間：10分）

　データ収録間隔：1分（合計計測時間：8時間）

　測定電流モード：ACモード

　測定ケーブル長：3.5m（標準）

　サンプル：チップ抵抗（公称値1mΩ×5個）

◆1mΩデータ・・・変化率データ

（Y軸：変化率（％）、X軸：経過サイクル数、表示CH数：5CH）

◆1mΩデータ・・・抵抗値データ

（Y軸：抵抗値（Ω）、X軸：経過サイクル数、表示CH数：5CH） 

【特長1】安定した計測データ

安定した電流値を維持する電流印加回路と増幅回路。温度係数の優れたパーツを厳選。

8時間にわたり1mΩを計測しましたがそのデータは揺らぐことなく終始安定しています。

【特長2】高分解能＆ノイズレス計測データ

専用設計のノイズキャンセル回路とツイストペアケーブルでノイズを低減。

今回の計測データでは、1mΩの±4％（約80uΩ相当）未満の変化率を十分な分解能をもって計測できました。

RTm-100シリーズは、小さな抵抗値の微小変化率を確実に計測します。

今回はAC電流モードを使い1mΩを計測しました。

RTm-100は標準装備の直流電流回路でDC電流モードでの計測も可能です。

DC電流モードなら、最大200kΩの抵抗値計測が行えます。

RTm-100は、1mΩから200kΩまで、高精度な多チャンネル計測が行えるテスターです。

RTm-100なら微小抵抗のわずかな変化を高精度に計測し、安定した計測回路で確実な導通信頼性データを提供します。

以下に、計測データを用いて解説します。

1500サイクルにわたり、高温側データを計測したグラフデータを掲載します。

【試験条件】

　サイクル数：1500

　温度条件：　+125℃（10分）-40℃（10分）

　除霜動作：500サイクル毎

　サンプル：詳細非公開（初期値は約20mΩ）

　（Y軸：変化率（％）、X軸：経過サイクル数、表示CH数：12CH）

 グラフデータから判るRTm-100シリーズの優れた計測能力について記載します。

【特長１】揺らぎのない計測データ

　安定した電流値を維持する電流印加回路と増幅回路。温度係数の優れたパーツを厳選。

【特長２】ノイズの乗らない計測データ

　ツイストペアの計測ケーブルと、適切なノイズ除去回路で高精度な計測を実現。

【特長３】優れた計測分解能

　サイクル初期の段階からの微小変化も読み取り可能。

　約100サイクル経過時点から徐々に抵抗値が上昇している様子がわかります。

【特長４】優れた再現性

　例えば、除霜動作などによる計測中断前後の計測データの連続性も完全です。

　機械式リレーがなく、熱起電力による影響がないためです。

（除霜処理前後でグラフデータに段差が全くありません）

今回の計測はヒートショックチャンバー搭載のタイムシグナルを利用して、高温、低温の切り替わりに連動してデータ計測を行いました。

RTm-100シリーズは、タイムシグナル検出後の遅延時間設定機能で槽内環境が平衡状態に達した最適なタイミングを狙っての計測を実現します。ハードウェアの高速スキャン能力による計測時間の短さで、多チャンネルでも全サンプルのデータ計測が余裕を持って完了します。

ミリΩレベルの抵抗値をより速く、より正確に計測。

プリント基板のパターン、はんだ接合部などの導通信頼性試験に最適！

　本システムは多チャンネル導通信頼性評価装置で、主にヒートショック試験槽内に設置された試験サンプルの抵抗値をモニタリングするものです。

　高温環境、低温環境の環境変化（試験サイクル）に同期して抵抗値が自動的に計測され、専用ソフトウェアにてグラフデータやテキストデータで表示されます。また、あらかじめ設定されたＮＧ判定値（絶対値、または変動率）を検出することにより、サンプルの導通信頼性評価を行います。

　オプション機能で温度データも記録する事が出来ます。

　本システムはサイクル連動計測の他、設定された時間間隔で定期的に抵抗値を計測する機能も備えており、幅広い用途にお使いいただけます。

50m秒／CHの高速スキャン

　サイクル時間の短いヒートショック試験にも余裕を持って計測を実行します。

高精度データ計測

　専用設計の計測回路は機械式リレーが無く熱起電力により計測データのシフトを低減。

高性能計測回路

　サンプルに印加される電流データ、電圧データを個別ロックインアンプで同時計測し、真の微小抵抗値の計測が可能。

ノイズを徹底的に排除

　ツイストペアケーブル採用で計測ケーブルに伝搬するノイズを効果的に低減。

AC/DC計測機能を標準搭載

　印加電流はAC、DCを試験単位で切り替えて出力し計測できます。試験の要求に応じて使い分ける事が出来ます。

小型軽量

　筺体タイプは、96CH、240CHの2種類をラインナップ。持ち運び自由自在で試験槽横のせまいスペースで直ぐに試験が実行可能。

本システムは、標準ケーブル3.5m先端においても微小抵抗をノイズの影響を抑え、高精度で安定して計測することができます。以下に実測データを掲載します。

   （クリックで拡大表示）

■計測条件など

　・計測サンプル　5mΩ（チップ抵抗）

　・試験環境　常温、常湿

　・印加電流　AC電流（オートレンジ）

　・データ収録　定期収録（１分間隔）

　・標準ケーブル　3.5m先端にて

イオンマイグレーションによる絶縁劣化は製品において重大なトラブルとなることもあります。

絶縁不良の初期段階には瞬間的な短絡現象が見られることがあり、従来の試験方法やテスターでは計測が難しいものでした。

Ｊ－ＲＡＳのＥＣＭ－１００シリーズは16msec間隔でリークタッチを監視し、実抵抗値の連続データとして記録することが出来ます。しかもCHスキャンが一切ないのでフル実装のシステムでも性能低下が全くありません。

今までのテスターでは計測できなかった実抵抗値の変動を、誰が見ても一目で把握できる時系列グラフで表示します。

 析出物による短絡（リークタッチ）

 　ECM-100の高速データ収録　　　　　　　　　計測データ（グラフ表示画面）

マイグレーション試験の信頼性が格段に高まり、御社での開発検証のための確かなデータの取得と品質信頼性の向上にお役立て頂けます。