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SiCパワー半導体の「AC-BTI試験サービス」を強化
評価範囲の拡大と試験時間の最大75%短縮により、製品開発の効率化を支援
SiCパワー半導体は、従来のシリコン(Si)製パワー半導体と比べて電力損失を抑えられるため、電気自動車、データセンター向け電源、風力発電関連機器などへの採用が広がるとともに、宇宙機器への適用も期待されています。一方、SiCパワー半導体の一種であるSiC MOSFETには、長期間にわたるスイッチング動作(オン/オフの繰り返し)によって、しきい値電圧が不可逆的に上昇する固有の劣化モードがあります。この劣化は電力損失の増加につながる場合があり、長期信頼性を確保するうえで重要な評価課題となっています。
OEGは、国内の受託試験所に先駆けて2024年9月からAC-BTI試験サービスを提供してきました。今回、SiCパワー半導体の用途拡大に伴うお客様の要望や欧州の信頼性規格AQG 324の改定を受け、カスタムメイドの試験装置を新たに開発・導入しました。これにより、幅広い試験条件への対応や多角的な特性把握が可能となり、実際の使用環境により近づけるための規格改定で追加された条件にも対応します。さらに、スイッチング動作の高速化により、試験時間を従来に比べて最大75%短縮します。JEITA EDR-4713 Amend.1に記載されている風力発電関連機器(パワーコンディショナー)相当の試験では、従来約231日を要していた試験期間を約58日に短縮できます。
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