OKIエンジニアリングで対応可能な試験及びAEC規格について紹介します。
■AEC-Q100 半導体集積回路(IC)を対象
◆AEC-Q100 TEST GROUP A 環境ストレス試験
・前処理 SMD only:Moisture Preconditioning
JESD22-A113
J-STD-020
・高温高湿バイアス試験
・超加速寿命試験
JESD22-A101
JESD22-A110
・オートクレーブ
・バイアスなし超加速寿命試験
JESD22-A102 or JESD22-A118
・温度サイクル試験
JESD22-A104
・パワー温度サイクル試験
JESD22-A105
・高温保管試験
JESD22-A103
◆AEC-Q100 TEST GROUP B 加速寿命試験
・高温動作寿命
JESD22-A108
・初期不良
AEC-Q100-0008
・繰り返し書き換え試験、データ保持試験
AEC-Q100-0005
◆AEC-Q100 TEST GROUP C パッケージアセンブリ保全試験
・ワイヤボンディングシェア強度
AEC-Q100-001
・ワイヤボンディング引っ張り強度
MIL-STD-883 Method 2011
・はんだ濡れ性
JESD22-B102
・デバイスの外見寸法確認
JESD22-B100
JESD22-B108
・はんだボンディングシェア強度
AEC-Q100-010
・端子強度
JESD22-B105
◆AEC-Q100 TEST GROUP D ダイレベル信頼性試験
・経時的酸化膜寿命
JESD35
・ホットキャリア注入試験
JESD60&28
・負バイアス温度不安定性
JESD90
・ストレスマイグレーション
JESD61, 87, &202
◆AEC-Q100 TEST GROUP E 電気的特性確認
・Pre and Post Stress Electrical Test
・人体モデル
AEC-Q100-002
・デバイス帯電モデル
AEC-Q100-011
・ラッチアップ
AEC-Q100-004
・特性選別
AEC-Q100-009
◆AEC-Q100 TEST GROUP F キャビティーパッケージ試験(セラミックパッケージ)
・衝撃試験
JESD22-B104
・振動試験
JESD22-B103
・定加速度試験
MIL-STD-883 Method 2001
・ファインリーク試験
・グロスリーク試験
MIL-STD-883 Method 1014
・落下試験
・ダイシェアテスト
MIL-STD-883 Method 2019
・内部水蒸気の含有率試験
MIL-STD-883 Method 1018
■AEC-Q101 個別半導体(ディスクリート)部品を対象
(コンデンサー・トランジスタ・ダイオード等)
・ストレス試験前後の電気的特性取得
・前処理 SMD部品 Test#7, 8, 9, 10のみ
JESD22-A113
・外観検査
JESD22-B101
・パラメータ検証
・高温逆バイアス試験
MIL-STD-750-1 M1038 MethodA
・ACブロッキング電圧
MIL-STD-750-1 M1040 TestConditionA
・高温順バイアス試験
JESD22-A108
・定常動作試験
MIL-STD-750-1 M1038 ConditionB
・高温ゲートバイアス試験
JESD22-A108
・温度サイクル試験
JESD22-A104 Appendix 6
・温度サイクル試験後の高温テスト
JESD22-A104 Appendix 6
・温度サイクル試験後の内部剥離検査
JESD22-A104 Appendix 6
J-STD-035
・高温バイアス試験500時間後のワイヤボンド強度
MIL-STD-750 Method 2037
・バイアスなし、高温高湿試験
JESD22-A118
・オートクレーブ
JESD22-A102
・バイアス印加 高温高湿試験
JESD22-A110
・高温高湿 逆バイアス試験
JESD22-A101
・高温高湿 順バイアス試験
JESD22-A101
・ON/OFF動作寿命
MIL-STD-750 Method 1037
・パワー温度サイクル試験
JESD22-A105
・静電破壊試験 HBM、CDM
AEC-Q101-001
AEC-Q101-005
・破壊的物理解析
AEC-Q101-004 Section4
・寸法測定
JESD22-B100
・リード強度
MIL-STD-750 Method 2036
・耐溶剤性試験
JESD22-B107
・定加速度試験
MIL-STD-750 Method 2006
・振動試験
JESD22-B103
・衝撃試験
JESD22-B104
・封止試験
JESD22-A109
・半田耐熱性試験
JESD22-A111(SMD)
JESD22-B106(PTH)
・はんだ濡れ性試験
J-STD-002
JESD22-B102
・熱抵抗測定
JESD24-3, 24-4, 24-6 as appropriate
・ワイヤボンド強度
MIL-STD-750 Method 2037
・ワイヤボンドシェア強度
AEC-Q101-003
・ダイシェア強度
MIL-STD-750 Method 2017
・プロセス変更時に実施
AEC-Q101-004 Section2
・プロセス変更時に実施
AEC-Q101-004 Section3
・短絡回路評価
AEC-Q101-006
・鉛フリー評価
AEC-Q005
■AEC-Q200 受動部品を対象(コンデンサ・インダクタ[コイル]・抵抗等)
・ストレス試験前後での電気的特性検査
(ストレス試験前後の電気的特性取得)
・高温(耐熱性)試験
(高温放置)
MIL-STD-202H Method 108
(MIL-STD-202H Method 108)
・温度急変試験
(温度サイクル試験)
JESD22-A104D
JEP140
(JESD22-JA-104)
・破壊的物理検査
(破壊的物理解析)
EIA-469-E
(EIA-469)
・温湿度組み合わせ(サイクル)試験
MIL-STD-202H Method 106
・高温高湿負荷試験
(高温高湿バイアス試験)
MIL-STD-202H Method 103
AEC-Q200-004A
(MIL-STD-202 Method 103)
・高温負荷寿命試験
(高温寿命試験)
MIL-STD-202H Method 108
MIL-PRF-27F
AEC-Q200-004A
(MIL-STD-202 Method 108)
・外観検査
(外観検査)
MIL-STD-883K Method 2009
(MIL-STD-883 Method 2009)
・外形寸法
(寸法測定)
JESD22-B100B
JESD22-JB-100
・端子強度試験
(リード強度)
MIL-STD-202H Method 211
AEC-Q200-004A
(MIL-STD-202 Method 211)
・耐溶剤性試験
MIL-STD-202H Method 215
MIL-STD-202 Method 215
・衝撃試験
MIL-STD-202H Method 215
MIL-STD-202 Method 213
・正弦波振動試験
(振動試験)
MIL-STD-202H Method 204
(MIL-STD-202 Method 204)
・はんだ耐熱性試験
(半田耐熱性試験)
MIL-STD-202H Method 210
(MIL-STD-202 Method 210)
・熱衝撃試験
MIL-STD-202H Method 107
・静電気放電イミュニティ試験
(静電破壊試験)
AEC-Q200-002
(AEC-Q200-002 または ISO/DIS10605)
・はんだ付け性
(はんだ濡れ性試験)
J-STD-002E
JESD22-B102E
MIL-STD-202H Method 208
(J-STD-002)
・電気的特性
・可燃性
UL94 Standardfor Safety
JIS C60695-11-10
・耐プリント板曲げ性試験
(ボード曲げ耐性)
AEC-Q200-005
(AEC-Q200-005)
・固着性(せん断強さ)試験
(リード強度)
AEC-Q200-006
(AEC-Q200-006)
・本体強度試験
AEC-Q200-003
対象材料・部品・装置
- 電子・電気機器
- 自動車・輸送機器
試験方法
電気的な特性を調べる
対応工業規格
- AEC-Q005
- AEC-Q100
- AEC-Q100-0005
- AEC-Q100-0008
- AEC-Q100-001
- AEC-Q100-002
- AEC-Q100-004
- AEC-Q100-009
- AEC-Q100-010
- AEC-Q100-011
- AEC-Q101
- AEC-Q101-001
- AEC-Q101-003
- AEC-Q101-004 Section2
- AEC-Q101-004 Section3
- AEC-Q101-004 Section4
- AEC-Q101-005
- AEC-Q101-006
- AEC-Q200
- AEC-Q200-002
- AEC-Q200-003
- AEC-Q200-004A
- AEC-Q200-005
- AEC-Q200-006
- EIA-469
- EIA-469-E
- ISO/DIS10605
- JEP140
- JESD22-A101
- JESD22-A102
- JESD22-A103
- JESD22-A104
- JESD22-A104 Appendix 6
- JESD22-A104D
- JESD22-A105
- JESD22-A108
- JESD22-A109
- JESD22-A110
- JESD22-A111SMD
- JESD22-A113
- JESD22-A118
- JESD22-B100
- JESD22-B100B
- JESD22-B101
- JESD22-B102
- JESD22-B102E
- JESD22-B103
- JESD22-B104
- JESD22-B105
- JESD22-B106PTH
- JESD22-B107
- JESD22-B108
- JESD22-JA-104
- JESD22-JB-100
- JESD24-3
- 24-4
- 24-6 as appropriate
- JESD35
- JESD60&28
- JESD61
- JESD61
- 87
- &202
- JESD90
- JIS C60695-11-10
- J-STD-002
- J-STD-002E
- J-STD-020
- J-STD-035
- MIL-PRF-27F
- MIL-STD-202 Method 103
- MIL-STD-202 Method 108
- MIL-STD-202 Method 204
- MIL-STD-202 Method 210
- MIL-STD-202 Method 211
- MIL-STD-202 Method 213
- MIL-STD-202 Method 215
- MIL-STD-202H Method 103
- MIL-STD-202H Method 106
- MIL-STD-202H Method 107
- MIL-STD-202H Method 108
- MIL-STD-202H Method 204
- MIL-STD-202H Method 208
- MIL-STD-202H Method 210
- MIL-STD-202H Method 211
- MIL-STD-202H Method 215
- MIL-STD-750 Method 1037
- MIL-STD-750 Method 2006
- MIL-STD-750 Method 2017
- MIL-STD-750 Method 2036
- MIL-STD-750 Method 2037
- MIL-STD-750-1 M1038 ConditionB
- MIL-STD-750-1 M1038 MethodA
- MIL-STD-750-1 M1040 TestConditionA
- MIL-STD-883 Method 1014
- MIL-STD-883 Method 1018
- MIL-STD-883 Method 2001
- MIL-STD-883 Method 2009
- MIL-STD-883 Method 2011
- MIL-STD-883 Method 2019
- MIL-STD-883K Method 2009
- UL94 Standardfor Safety
試験所所在地
- 埼玉県本庄市
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