対応試験の紹介
定加速度試験
■定加速度試験とは、陸上輸送機・航空機・ロケットや回転機器等に使用される電子部品および半導体製品等に現実の使用状態とはかけ離れた高加速度（高ストレス）を角方向へ加えることで、振動・衝撃試験では検出できない構造上（基板とダイの付着性）や機械的欠陥（半導体部品のワイヤの切れ、端子の外れ、ダイの異常）などの検出が可能な試験です。
試験所所在地
- 東京都東久留米市
- サイト内検索
- オフィシャルサイト
- ページカテゴリ一覧
- 新着ページ
-
- 2026 OEGセミナー［11/13 オンライン］のご案内 (2026年10月14日)
- 【サービスを強化】SiCパワー半導体の「AC-BTI試験サービス」 (2026年10月02日)
- SiCパワー半導体のAC-BTI試験（DGS試験／GSS試験） (2026年10月02日)
- 見る場所が違えば測定結果も変わる—その理由とは何でしょうか。 (2026年09月11日)
- 第3回 九州半導体産業展に出展 (2026年09月08日)
