対応試験の紹介
定加速度試験
■定加速度試験とは、陸上輸送機・航空機・ロケットや回転機器等に使用される電子部品および半導体製品等に現実の使用状態とはかけ離れた高加速度（高ストレス）を角方向へ加えることで、振動・衝撃試験では検出できない構造上（基板とダイの付着性）や機械的欠陥（半導体部品のワイヤの切れ、端子の外れ、ダイの異常）などの検出が可能な試験です。
試験所所在地
- 東京都東久留米市
- 参加ポータル
-
- サイト内検索
- オフィシャルサイト
- ページカテゴリ一覧
- 新着ページ
-
- ESD試験 (2026年03月13日)
- 超音波探傷検査（SAT） (2026年03月11日)
- 耐候性試験（LEDフェードメーターによる耐光性試験） (2026年03月09日)
- 【新規設備】白色LED光源による「耐光劣化試験サービス」開始 (2026年03月09日)
- LSIプロセス診断 (2026年03月06日)
