対応試験の紹介
走査型電子顕微鏡観察（SEM）
LSI・電子部品・材料等の正確な解析・分析の為には微細構造を観察したり、元素を分析したりする事が必要であり、その手段の一つとして走査型電子顕微鏡（SEM）やエネルギー分散型X線分光法(EDX）が有効です。
対象材料・部品・装置
- 電気・電子材料
- 電子デバイス
- 電子・電気機器
試験所所在地
- 東京都練馬区
- 参加ポータル
-
- サイト内検索
- オフィシャルサイト
- 新着ページ
-
- 耐候性試験（LEDフェードメーターによる耐光性試験） (2026年03月09日)
- 【新規設備】白色LED光源による「耐光劣化試験サービス」開始 (2026年03月09日)
- LSIプロセス診断 (2026年03月06日)
- ロックイン赤外線発熱解析 (2026年02月27日)
- 計測器の校正エリアを拡大し「北関東校正センター」を開設 (2026年02月24日)
