試験一覧

• 超短パルスレーザ加工

  

  当社のビーム加工技術のライナップに、超短パルスレーザ加工技術が加わります。現在、超微細領域において、非熱加工技術としてFIB（集束イオンビーム）加工技術を保有しており、サブナノ～シングルミクロン領域で高…

  続きを読む

• 集束イオンビーム加工観察（FIB）

  

  半導体デバイスなどの故障解析で必要とされる物理解析手段のFIB断面加工の受託サービスを行っています。大面積・高速加工、SIM像による明瞭な組織構造など、当社のFIBの特徴を活かしたデータ作製を請け負います。高…

  続きを読む

• 1