高速データ収録で精度の高いMIG試験が可能

イオンマイグレーションによる絶縁劣化は製品において重大なトラブルとなることもあります。

絶縁不良の初期段階には瞬間的な短絡現象が見られることがあり、従来の試験方法やテスターでは計測が難しいものでした。

Ｊ－ＲＡＳのＥＣＭ－１００シリーズは16msec間隔でリークタッチを監視し、実抵抗値の連続データとして記録することが出来ます。しかもCHスキャンが一切ないのでフル実装のシステムでも性能低下が全くありません。

今までのテスターでは計測できなかった実抵抗値の変動を、誰が見ても一目で把握できる時系列グラフで表示します。

 析出物による短絡（リークタッチ）

 　ECM-100の高速データ収録　　　　　　　　　計測データ（グラフ表示画面）

マイグレーション試験の信頼性が格段に高まり、御社での開発検証のための確かなデータの取得と品質信頼性の向上にお役立て頂けます。