高電圧絶縁信頼性試験装置　HVUαシリーズ　実測データのご紹介

高電圧絶縁信頼性試験装置　HVUαシリーズ　実測データのご紹介

■高電圧絶縁計測＋100n秒以下の高速イベント収録

• ⾼電圧デバイスの絶縁信頼性評価
• パワーモジュールの連続耐圧評価
• プリント基板の耐マイグレーション性能評価
• その他⾼電圧部品の絶縁信頼性評価

■高速イベント検出機能

　HVUαには計測電流の急速な変化（100n秒以下）を捉える高速イベント検出機能をチャンネル個別に搭載しました。この機能は、従来の多チャンネル高電圧テスターでは検出が困難であった抵抗値の急激な変化や部分放電等による電流変化の記録を可能にします。

　高速イベントが検出されると△マークで電圧データグラフ上に表示され、抵抗値・電流値データとの比較も容易です。

　従来のテスターは計測スピードが遅く、更に設定されたNG判定抵抗値を下回らない限り、定期的な時間間隔のデータしか残せませんでしたが、HVUαはこの新しい計測機能により、高抵抗の領域においても効果的にデータを記録し、サンプルの信頼性を判断するための要素をより多く提案します。

■実測データ

３つの実測データを掲載します。

実測データ①　高速イベント検出あり

試験開始直後に3回の高速イベントが検出されました。その後、12時間程度経過したのち、絶縁抵抗が徐々に低下しています。

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実測データ②　高速イベント検出あり

試験開始直後から多数の高速イベントが検出されました。絶縁抵抗値は全体的に不安定です。

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実測データ③　高速イベント検出なし

高速イベントの検出は無く、絶縁抵抗値は安定しています。

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■主な機能・仕様

・4000Vの高電圧印加が可能

・高速イベント検出機能搭載

・チャンネル個別印加電圧設定

・最大200CHまで1台のPCで制御可能