製品・技術

• 新製品　高電圧絶縁信頼性試験装置　HVUsシリーズ

  絶縁抵抗測定器（高電圧）  / 2010年09月24日 /  化学・樹脂 電子・半導体 試験・分析・測定
  

   

   NEW 　高電圧絶縁信頼性試験装置

  HVUsシリーズ　　　 　　　　　　　　　　　　　　

   「最大3000Vの高電圧印加電圧にて絶縁劣化を連続計測・収録します」

  HVUsシリーズはPCとの連動により自動データ計測及び収録を行う高電圧信頼性評価装置です。高電圧電子デバイスやケーブル等の絶縁評価にご活用頂けます。

  
  
  安定した印加電圧
  　最大3000Vの高電圧出力回路とフィードバック制御をチャンネル毎に搭載しました。高電圧でも妥協しない設計で、他チャンネルに影響されず常に設定電圧を維持する安定した電圧印加を実現しました。
  
  高速短絡検出
  　 サンプルの短絡検出回路もチャンネル個別搭載です。ミリ秒単位の短絡にも追従しイベントとして記録出来ます。短絡検出と同時に印加電圧もOFFにるので高電圧の漏電防止する安全機能としての役割も果たします。
  
  ノイズに強い
  　電流計測ケーブルはトライアキシャル構造のアクティブガードです。ノイズを排除し微細な電流信号を確実に計測します。電圧印加側ケーブルはシールドタイプで被服が剥けても高電圧が露出しません。

  多チャンネル
  　筺体サイズは 450(W)×500(H)×275(D)と小型ながら最大50チャンネル搭載可能です。筺体には外部接点入力も装備されておりエリアセンサーやチャンバー扉に連動させた緊急停止制御も容易です。 

  特長

  　　：CH個別電源搭載で各サンプルに安定した電圧印加

  　　：機械式リレーによるスキャン動作が無いので連続試験中の故障やトラブル無し

  　　：短絡検出回路のCH個別搭載で瞬間的なサンプル短絡にも追従

  　　：専用ソフトウェア搭載のPCとの接続によりグラフ表示やデータ収録可能

  　　：５チャンネル単位でご要望に応じたシステム構成可能

  　　：価格を抑えたスタンドアローンモデルもラインナップ

  　　　＊3000Vを超える印加電圧のカスタマイズも承ります（別途お問い合わせ）

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• 新製品　マイグレーションテスター　ECM-Light

  絶縁抵抗測定器  / 2010年01月21日 /  化学・樹脂 電子・半導体 試験・分析・測定
  

   NEW 　エレクトロケミカルマイグレーションテスター

  ECM-Light 　　　　　　　　　　　　　　

   「マイグレーションテスターは高価で導入していないが自作テスターでの試験には問題がある」とお悩みではありませんか？

  
  J-RASの”ECM-Light”はこのようなお客様のご要望を満たすため、機能を簡素化して価格を抑えた新コンセプトのテスターです。
  自作テスターに比べて試験の信頼性を大幅に向上し工数削減にも大きく貢献します。
  高機能なテスターを必要としない簡易的な試験の需要が多い場合にも最適なテスターです。
  
  連続モニタリングシステム
  　ECM-Lightは恒温恒湿槽からサンプルを取り出さずに絶縁抵抗値を計測できる槽内連続モニタリング装置なので一時的な絶縁抵抗劣化も検出します。また、サンプルを取り出さないので余計な環境ストレスを与えることもなく再現性の高い試験結果を期待できます。
  　もちろん、サンプルを一定時間おきに取り出して抵抗計測して槽内に戻す作業の繰り返しも不要で工数削減にもなります。
  
  チャンネル個別電源搭載
  　”ECM-Light”は各チャンネル個別の電源回路からサンプルに電圧を印加するので、１つのサンプルの短絡が別のサンプルの印加電圧を低下させることがありません。更に電圧フィードバック制御も各チャンネルで独立です。このため試験終了まで安定したストレス電圧印加が可能です。
  　自作テスターでは１つの電源を複数サンプルで共有するため、あるサンプルの短絡により他のサンプルへの印加電圧も低下する恐れがあり試験結果が不安定になりがちです。
  
  メーカー製テスターならではの便利機能
  任意のNG判定レベルを設定できます。NGと判定されたサンプルへの印加電圧を自動的にOFFに出来ます。
  グループ単位（10CH単位）で任意のNG判定レベルを設定できます。NGと判定されたチャンネルのランプが点灯するので試験状況が一目でわかります。
  オプション機能でリーク電流の変化をデータレコーダーに記録することも可能です。

   

  主な仕様

  ●チャンネル数：10～50CH（10CH単位で増設）

  ●印加電圧：1～100V（無段階設定）

  ●表示機能：印加電圧、計測電流（4桁デジタル表示）

  ●信号出力：リーク電流レベル出力 （電圧信号）

  ●接点出力：短絡検出信号（CH別オープンコレクタ）

   本製品はNG判定値、電流レンジ等カスタマイズ可能な受注生産品です。

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• 高速データ収録で精度の高いMIG試験が可能

  導通信頼性テスター  / 2009年04月17日 /  自動車 産業機械機器 家電・AV

  イオンマイグレーションによる絶縁劣化は製品において重大なトラブルとなることもあります。

  絶縁不良の初期段階には瞬間的な短絡現象が見られることがあり、従来の試験方法やテスターでは計測が難しいものでした。

  Ｊ－ＲＡＳのＥＣＭ－１００シリーズは16msec間隔でリークタッチを監視し、実抵抗値の連続データとして記録することが出来ます。しかもCHスキャンが一切ないのでフル実装のシステムでも性能低下が全くありません。
  
  今までのテスターでは計測できなかった実抵抗値の変動を、誰が見ても一目で把握できる時系列グラフで表示します。

   

  

   析出物による短絡（リークタッチ）

   

  　　　　　

   　ECM-100の高速データ収録　　　　　　　　　計測データ（グラフ表示画面）

   

  マイグレーション試験の信頼性が格段に高まり、御社での開発検証のための確かなデータの取得と品質信頼性の向上にお役立て頂けます。

   

   

   

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