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ユーロフィンイーエージー株式会社
製品・技術

グロー放電質量分析(GDMS)

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グロー放電質量分析 GDMS  /  試験・分析・測定

グロー放電質量分析(GDMS)分析概略

GDMS(Glow Discharge Mass Spectrometry:グロー放電質量分析) は微量不純物(ppm-ppb wt)の評価に適した手法で、周期表上の安定同位体を持ちガス成分*を除くほとんどの元素を同時測定する事ができます。
試料は導電性を持つものが好ましいですが、EAG Laboratoriesでは導電性試料だけではなく、半導体・絶縁物を安定に測定できる技術を保有しており、酸化物・窒化物・炭化物の中の不純物分析が可能です。

*ガス成分(水素(H)・炭素(C)・窒素(N)・酸素(O)のバルク分析はIGA分析の併用を推奨します

*各分析手法の分析深さはSMART Chartからご覧いただけます

対象分野

  • 半導体
  • エレクトロニクス
  • 自動車
  • 航空宇宙
  • 鉄鋼
  • 先端材料
  • エネルギー
  • メディカルデバイス

対象試料の事例

  • 純度金属
  • 合金
  • カーボン及び黒鉛製造品
  • 各種半導体材料、パワーデバイス
  • 酸化物・炭化物・窒化物・硫化物等のセラミックス
  • 太陽電池用シリコン
  • レアメタル・レアアース
  • 主成分不確定な未知の材料
  • 二次電池正極材原材料

原理/特徴

固体試料を陰極としてグロー放電を用いて試料表面をスパッタし、放出された中性粒子をプラズマ内のArや電子との衝突によってイオン化させます。

  • 周期律上で安定同位体を持つ殆どの元素(Li-U)の測定が可能
  • 多くの元素に対し、ppb-%レベルの測定が可能
  • マトリックス効果が小さく、
    標準試料の無い未知の材料でも定量分析に近い半定量分析が可能
  • 粉末、ワイヤー、薄膜等、様々な形態でも補助材料を用いる事で直接測定が可能
  • 導電性を確保する事で、半導体材料や絶縁物でも直接測定が可能
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装置構成

分析に適した試料量/形状

■推奨量
約3g以上

■形状
バルク・粉末・不定形・ピン形状

ピンセル方式

スパッタ領域全てを見る事が出来るため、バルクとしての試料情報を得るのに適しています。

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ピンセルに適した形状

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酸化物は試料を固定するためにTaスプーンを使用します。そのため、Taの測定はできません。また、Taスプーンの試料前処理作業が必要になります。

フラットセル方式

  • 薄いフイルム状や平らな表面のサンプルに効果的
  • 粉末はフラットセルに固定し分析
  • 基板上の薄膜も分析可能(最低数umの厚さが必要)
  • 深さ方向分析が可能
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フラットセルに適した形状

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関連のある分析手法

  • IGA
  • ETV-ICP-MS
  • ICP-MS
  • ICP-OES

SMART Chart

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分析深さ一覧

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