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材料分析｜ユーロフィンEAG
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「SEM」一覧

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  • SEM-CL：カソードルミネッセンス分析

    CL SEM  / 2024年07月26日 /  試験・分析・測定
    SEM-CL：カソードルミネッセンス分析概略SEM-CL（SEM-Cathodoluminescence：カソードルミネッセンス分析）は材料の発光性再結合の様子を電子顕微鏡レベルの空間分解能で評価可能な手法です。光学的特性や半導体・絶…
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  • SEM/断面SEM：走査電子顕微鏡分析

    SEM 断面SEM 走査電子顕微鏡分析  / 2023年12月21日 /  試験・分析・測定
    SEM/断面SEM分析概略SEM（Scanning Electron Microscope：走査型電子顕微鏡）では表面の凹凸像・組成コントラスト像を取得することができます。また、FIB-SEMやイオンミリング装置で試料の断面加工を行い、SEMで微細…
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