「FIB-SEM」一覧
すべてのページカテゴリ一覧
»
「FIB-SEM」に関するページ
-
FIB-SEM：集束イオンビーム分析概略FIB（Focused Ion Beam：集束イオンビーム）は微細に集束されたイオンビームを使用して試料の加工・イオン像の観察が行なえます。FIB-SEMは高解像度のFE-SEM（電界放出電子顕微鏡…
- 1
- サイト内検索
- 新着ページ
-
- SEM-CL：カソードルミネッセンス分析 (2024年07月26日)
- TEM-EDS/EELS：透過型電子顕微鏡・元素分析 (2024年07月22日)
- PCOR-SIMS：Point by point Corrected 二次イオン質量分析法 (2024年07月17日)
- FIB-SEM：集束イオンビーム分析 (2024年07月09日)
- 振動試験（対応規格：JIS C60068-2-6, JIS Z0200/232, ASTM D4169ほか） (2024年05月30日)
