企業プロフィール
| 企業名 | ユーロフィンEAG株式会社 |
| 企業名かな | ユーロフィンイーエージー |
| 住所 | 〒101-0065 |
| 代表者名 | 河田 岳 |
| 設立年月日 | 1992年07月01日 |
会社概要
ユーロフィンEAG株式会社
事業概要
【表面分析受託サービス】弊社では半導体産業、航空宇宙産業、先端・ナノ材料産業を中心に、半導体デバイス・材料、高純度金属、レアメタル、セラミックスの形態分析、不純物評価、組成評価、結晶構造評価などをご提供しております。
製品・技術・サービス
微量不純物分析｜GDMS分析
グロー放電質量分析（GDMS） は微量不純物の評価に適した手法で、周期表上の安定同位体を持ちガス成分を除くほとんどの元素を同時測定する事ができます。
EAG Laboratoriesでは導電性試料だけではなく、半導体・絶縁物を安定に測定できる技術を保有しており、酸化物・窒化物・炭化物の中の不純物分析が可能です。
詳細を見るエンハンスドSIMS｜SIMS：二次イオン質量分析法
【事例】酸化膜中における可動イオンのイオン注入分布評価
材料分析サービスの概要
- 不純物分析
- GDMS（グロー放電質量分析）
- SIMS（二次イオン質量分析）
- IGA（残留ガス分析）
- ICP-OES（高周波誘導結合プラズマ発光分析）
- 組成分析
- RBS（ラザフォード後方散乱分析）
- HFS/（水素前方散乱分析）
- XPS/ESCA（X線光電子分光分析）
- TEM/STEM-EDS（透過型電子顕微鏡）
- EELS（高分解能EELSによる微細素子の構造評価）UP
- SEM/EDS（走査型電子顕微鏡）
- SEM-CL（カソードルミネッセンス）UP
- NRA（核反応分析）
- AES（オージェ電子分光分析）
- XRR（X線反射率測定）
- TOF-SIMS（飛行時間型二次イオン質量分析）
- TXRF（全反射蛍光X線分析）
- FTIR（フーリエ変換赤外分光分析）
- Raman（ラマン分光分析）
- 形態観察/構造解析
- SEM（走査型電子顕微鏡）
- TEM/STEM（透過型電子顕微鏡）
- FIB/SEM（集束イオンビーム/走査型電子顕微鏡）
- 3D-APT（3次元アトムプローブ）
- AFM（原子間力顕微鏡）
- XRD（X線回析）
- その他・分析サービス
お気軽にお問合せください
ユーロフィンEAGはSIMS分析を中心とした表面分析の専門集団です。TEM/SIMS分析に関することならお気軽にお問い合わせください。
現在の状況やご検討されている背景もお知らせいただけるとスムーズなご回答が可能です。
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