製品・技術

• SEM-CL：カソードルミネッセンス分析

  CL SEM  /  試験・分析・測定
  
  SEM-CL：カソードルミネッセンス分析概略SEM-CL（SEM-Cathodoluminescence：カソードルミネッセンス分析）は材料の発光性再結合の様子を電子顕微鏡レベルの空間分解能で評価可能な手法です。光学的特性や半導体・絶…
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• TEM-EDS/EELS：透過型電子顕微鏡・元素分析

  透過型電子顕微鏡分析 TEM-EDS/EELS  /  試験・分析・測定
  
  TEM-EDS/EELS：透過型電子顕微鏡・元素分析概略TEM/STEMを用いた元素分析です。EDS（Energy Dispersive X-ray Spectroscopy：ネルギー分散型X線分光法）は比較的重元素の測定に向いており、EELS（Electron Energy Lo…
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• PCOR-SIMS：Point by point Corrected 二次イオン質量分析法

  PCOR-SIMS  /  試験・分析・測定
  
  PCOR-SIMS：Point by point Corrected 二次イオン質量分析法PCOR-SIMS（Point by point Corrected SIMS）はSIMSをベースに、EAG Laboratoriesが長年の経験とノウハウから独自開発した分析手法です。試料のマトリクス…
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• FIB-SEM：集束イオンビーム分析

  FIB-SEM FIB 集束イオンビーム  /  試験・分析・測定
  
  FIB-SEM：集束イオンビーム分析概略FIB（Focused Ion Beam：集束イオンビーム）は微細に集束されたイオンビームを使用して試料の加工・イオン像の観察が行なえます。FIB-SEMは高解像度のFE-SEM（電界放出電子顕微鏡…
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• 振動試験（対応規格：JIS C60068-2-6, JIS Z0200/232, ASTM D4169ほか）

  振動試験  /  試験・分析・測定
  振動試験 概略振動試験は電子部品/電子機器・製品に振動を与えることにより、製品の耐性を評価する試験です。振動に加え温度・湿度・振動の環境ストレスを複合的に再現することができます。「製品の輸送環境を想定し…
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• ガス腐食試験（対応規格 JIS C60068-2-43/560）

  ガス腐食試験  /  試験・分析・測定
  ガス腐食試験 概略Iガス腐食試験験は大気条環境を試験層内で再現することにより、試料へのガス腐食による影響を評価する試験です。試験は規格に基づき実施いたします。弊社では硫化水素（H2S）・二酸化硫黄（SO2）・…
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