製品・技術

• SEM-CL：カソードルミネッセンス分析

  CL SEM  / 2024年07月26日 /  試験・分析・測定
  
  SEM-CL：カソードルミネッセンス分析概略SEM-CL（SEM-Cathodoluminescence：カソードルミネッセンス分析）は材料の発光性再結合の様子を電子顕微鏡レベルの空間分解能で評価可能な手法です。光学的特性や半導体・絶…
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• TEM-EDS/EELS：透過型電子顕微鏡・元素分析

  透過型電子顕微鏡分析 TEM-EDS/EELS  / 2024年07月22日 /  試験・分析・測定
  
  TEM-EDS/EELS：透過型電子顕微鏡・元素分析概略TEM/STEMを用いた元素分析です。EDS（Energy Dispersive X-ray Spectroscopy：ネルギー分散型X線分光法）は比較的重元素の測定に向いており、EELS（Electron Energy Lo…
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• PCOR-SIMS：Point by point Corrected 二次イオン質量分析法

  PCOR-SIMS  / 2024年07月17日 /  試験・分析・測定
  
  PCOR-SIMS：Point by point Corrected 二次イオン質量分析法PCOR-SIMS（Point by point Corrected SIMS）はSIMSをベースに、EAG Laboratoriesが長年の経験とノウハウから独自開発した分析手法です。試料のマトリクス…
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• FIB-SEM：集束イオンビーム分析

  FIB-SEM FIB 集束イオンビーム  / 2024年07月09日 /  試験・分析・測定
  
  FIB-SEM：集束イオンビーム分析概略FIB（Focused Ion Beam：集束イオンビーム）は微細に集束されたイオンビームを使用して試料の加工・イオン像の観察が行なえます。FIB-SEMは高解像度のFE-SEM（電界放出電子顕微鏡…
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• Kr85リーク試験：封止パッケージの気密性試験

  Kr85リーク試験 気密性試験  / 2024年05月27日 /  試験・分析・測定
  
  Kr85リーク試験：封止パッケージの気密性試験 概略Kr85リーク試験（The Krypton 85 Leak Testing）は封止パッケージの気密性試験です。極めて試験時間が短く、一般的なHeリーク試験よりも微小なリークレートの評価が…
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• IVA/HR-IVA：封止パッケージのガス成分分析

  IVA HR-IVA 封止パッケージのガス成分分析  / 2024年05月24日 /  試験・分析・測定
  
  IVA/HR-IVA：封止パッケージのガス成分分析 概略IVA（Internal Vapor Analysis：内部蒸気/ガス分析）・HR-IVA（高分解能-IVA）は封止されたパッケージデバイス内の水分量（水蒸気）・主成分ガス・残留ガス成分の相対…
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