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試験・分析・測定
分析/試験サービスのユーロフィンイーエージーの技術資料
SMART Chartと分析深さ
SMART Chartは各種表面分析手法について、一目で分析領域と検出下限の関係がわかるようにEAG Laboratoriesでデザインしたチャートです。
表面分析手法が一望できるので、分析手法の種類を知りたい場合や分析手法を選択するときなどの目安に役立ちます。
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表面分析手法が一望できるので、分析手法の種類を知りたい場合や分析手法を選択するときなどの目安に役立ちます。
SMART Chartを活用しよう『分析範囲と適切な分析手法の選択』
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- P2：SMART Chartについて
- P3：SMART Chartの見方
- P4：各分析手法のプローブ情報
- P5：分析手法と情報深さの関係性
- P6：分析手法の選択と分析深さ情報
国内ラボでの材料分析
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- P2：国内ラボでの材料分析
- P3：国内ラボでの材料分析テクニック
- P4：分析事例①・プリント板金
パッド材の変色原因調査 - P5：分析事例②：各種断面観察
- P6：主な分析装置
- P7：国内ラボの特徴
NEWPCOR-SIMSによる極低エネルギーBoronイオン注入試料の熱処理後の特性評価
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EAGで開発したPCOR-SIMSSMは、プロファイルのすべての領域において、ポイントごとにデータの最適化を行うことで、最も正確にULE Boronプロファイルを調べることが可能です。
NEW太陽電池用シリコン中の不純物測定
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- P1：太陽電池（PV）用シリコン不純物分析
- P2：ケーススタディ － PVシリコン粉末試料
- P3：GDMS＆SIMSについて
お気軽にお問合せください
ユーロフィンイーエージー（株）はSIMS分析を中心とした表面分析の専門集団です。TEM/SIMS分析に関することならお気軽にお問い合わせください。
現在の状況やご検討されている背景もお知らせいただけるとスムーズなご回答が可能です。
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- 3D-APT：三次元アトムプローブトモグラフィー分析 (2024年04月10日)
- RBS：ラザフォード後方散乱分析 (2024年04月04日)
- TXRF：全反射蛍光X線分析 (2024年02月21日)
- TEM/STEM-EDS/EELS：TEM/STEM-エネルギー分散型X線分光法/電子エネルギー損失分光法 (2024年02月19日)
- SIMS：二次イオン質量分析法 (2024年01月16日)
