製品・技術
ガス腐食試験 概略
Iガス腐食試験験は大気条環境を試験層内で再現することにより、試料へのガス腐食による影響を評価する試験です。
試験は規格に基づき実施いたします。弊社では硫化水素(H2S)・二酸化硫黄(SO2)・二酸化窒素(NO2)・塩素ガス(Cl2)を1~4種組み合わせることができ、さまざまな条件での試験が可能です。
※ご要望の試験条件はご相談ください
対象分野
- 半導体
- エレクトロニクス
- 自動車
- 航空宇宙
- 鉄鋼
- 先端材料
- エネルギー
用途事例
対象製品:電子部品/電子機器(および構成材料)・その他製品
- 動作確認・安全性確認の評価
- 耐性確認・寿命予測
- 初期・経過故障原因特定
対応試験仕様
項目 | 仕様 |
温度範囲 | +20 ~ +50℃(±0.5℃) |
相対湿度 | +25 ~ +40℃ / 70 ~ 95%RH +40 ~ +50℃ / 60 ~ 95%RH |
濃度 |
硫化水素(H2S)濃度:0.01 ~ 12.5 ppm 二酸化硫黄(SO2)濃度:0.05 ~ 12.5 ppm 二酸化窒素(NO2)濃度:0.01 ~ 2.5 ppm 塩素ガス(Cl2)濃度 :0.01 ~ 0.25 ppm |
槽内容積 | W500×D500×H700 mm |
主な対応規格 |
JIS C60068-2-43 JIS C60068-2-60 |
※ご要望の試験条件はご相談ください
関連のある分析手法
- 熱衝撃試験(気槽・液槽)
- 塩水噴霧サイクル試験
- 振動試験
- 促進耐候性試験(サンシャインウェザーメーター)
- 促進耐候性試験(キセノンウエザーメーター)
- サイト内検索
- 新着ページ
-
- SEM-CL:カソードルミネッセンス分析 (2024年07月26日)
- TEM-EDS/EELS:透過型電子顕微鏡・元素分析 (2024年07月22日)
- PCOR-SIMS:Point by point Corrected 二次イオン質量分析法 (2024年07月17日)
- FIB-SEM:集束イオンビーム分析 (2024年07月09日)
- 振動試験(対応規格:JIS C60068-2-6, JIS Z0200/232, ASTM D4169ほか) (2024年05月30日)