製品・技術

• SEM/断面SEM：走査電子顕微鏡分析

  SEM 断面SEM 走査電子顕微鏡分析  / 2023年12月21日 /  試験・分析・測定
  
  SEM/断面SEM分析概略SEM（Scanning Electron Microscope：走査型電子顕微鏡）では表面の凹凸像・組成コントラスト像を取得することができます。また、FIB-SEMやイオンミリング装置で試料の断面加工を行い、SEMで微細…
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• グロー放電質量分析（GDMS）

  グロー放電質量分析 GDMS  / 2023年12月20日 /  試験・分析・測定
  
  グロー放電質量分析（GDMS）分析概略GDMS（Glow Discharge Mass Spectrometry：グロー放電質量分析） は微量不純物（ppm-ppb wt）の評価に適した手法で、周期表上の安定同位体を持ちガス成分*を除くほとんどの元素を…
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